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  1601. Tip-based nanofabrication below 40 nm combined with a nanopositioning machine with a movement range of Ø100 mm  
Jaqueline Stauffenberg, Michael Reibe Anja Krötschl Christoph Reuter Ingo Ortlepp Denis Dontsov Steffen Hesse Ivo W. Rangelow Steffen Strehle Eberhard Manske Micro and Nano Engineering, Volume 19, 2023, 100201, ISSN 2590-0072, DOI: https://doi.org/10.1016/j.mne.2023.100201  
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  1602. Tip‑ and Laser‑based 3D Nanofabrication in Extended Macroscopic Working Areas  
Ingo Ortlepp, Thomas Fröhlich, Roland Füßl et al., Nanomanufacturing and Metrology 4, 132–148 (2021). DOI: https://doi.org/10.1007/s41871-021-00110-w  
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  1603. Tobias Baumgartner, Pepperl+Fuchs  
„Das systematische Vorgehen des IMMS mit Logiksimulation und detailliertem Nachweis der Funktionalität hat deutlich dazu beigetragen, dass wir im ersten Anlauf einen fehlerfreien Chip erhalten haben. Dieser fließt seit Ende 2016 in unsere Serienprodukte ein und wir sind mit dem Ergebnis sehr zufrieden.“  
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  1604. Tool-Unterstützung für 'System in Package'  
M. Isikhan, 34. Mikroelektronik-Seminar, 03.09.2009, Erfurt  
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  1605. Tools für die Programmierung von DSP  
Ch. Lang, Erlangen, FhG IIS, Seminar DSP-ADU, März 2002  
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  1606. Tools zur Analyse, Dokumentation und Wiederverwendung von Schaltungstopologien  
V. Boos, 31. Mikroelektronik-Seminar, 15.07.2009, Erfurt  
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  1607. Tools zur Dokumentation und Wiederverwendung von Schaltungstopologien  
V. Boos, edaWorkshop09, 26.-28.05.2009, Dresden  
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  1608. Top-Down Entwurf eines zyklischen A/D-Wandlers unter Einbeziehung der Verhaltensmodellierung in SpectreHDL  
R. Izak, R. Kindt F. Rößler J. Strömer 10. EIS-Workshop 'Entwurf Integrierter Systeme', Dresden, April 2001  
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  1609. Topologie und Routing in Sensornetzwerken und Auswirkungen auf die Energieeffizienz  
T. Rossbach, 7th Conference of Advanced Science 'Sensorsysteme 2008', 16. - 18. Oktober 2008, Lichtenwalde, Germany  
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  1610. Towards alternative 3D nanofabrication in macroscopic working volumes  
M. Kühnel, T. Fröhlich R. Füßl M. Hoffmann E. Manske I. W. Rangelow J. Reger C. Schäffel S. Sinzinger J-P. Zöllner Meas. Sci. Technol. 29 (2018) 114002, DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6501/aadb57  
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