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1541. OptoMed-Vakuumluftlager

Aufbau aus Metallrohren, Leitungen und Messgeräten auf einem Labortisch.

Luftlager in Hochpräzisions-Vakuumanwendungen? Mit unseren Partnern loten wir das technisch Machbare dieses (scheinbaren) Widerspruchs aus.

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1542. OPV und TIA-Optimierung mit WiCkeD

V. Boos, St. Lange Workshop: 'Effizienzsteigerung und Ausbeuteverbesserung im analogen Schaltungsentwurf mit WiCkeD, 20.01.2004, Erfurt

Über uns

1543. Organisation

Organisationsplan des IMMS. Foto: Kvalifik, Unsplash.

Organisation: Hier finden Sie unser Organigramm, Informationen zur Institutsleitung, zu unseren Themenbereichen, unserem Aufsichtstrat und unserem wissenschaftlichem Beirat sowie Kontatdaten.

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1544. Out-of-Band Over-The-Air-Update for LoRaWAN-based Sensor Networks using BLE

Florian Jung, Silvia Krug Tino Hutschenreuther 2025 IEEE International Workshop on Metrology for Agriculture and Forestry (MetroAgriFor), October 28-30, 2025, Bologna, Italy

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1545. Ovutinin

Mit einem neuen Ovulationsschnelltest soll die fruchtbare Phase bis zu 6 Tage vor dem Eisprung bestimmt werden. Image by Serhii Kuch from Pixabay.

Für einen innovativen Schnelltest zur Fertilitätsdiagnostik entwickelt das IMMS einen Bildsensor zur zeitaufgelösten Fluoreszenzmessung.

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1546. PANDIA

Spektroradiometer der neuesten Generation: JETI specbos 2501. In PANDIA wird integrierte Sensorik für solche Geräte entwickelt, um Licht künftig für zahlreiche Anwendungen deutlich besser und effizienter zu analysieren. Foto: JETI GmbH.

IMMS entwickelt neuartige CMOS- und SPAD-Sensor-ICs für Spektroradiometer zur schnelleren und empfindlicheren Analyse von Licht

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1547. Parameter Identification of Membrane Structures - Chances and Limitations

S. Michael, SSI 2010 - MEMUNITY Workshop, 24.03.2010, Grenoble, France

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1548. Parameter Identification of MEMS Membrane and Beam Structures by Modal Analysis and Dynamic Measurements

St. Michael, ANSYS Conference & 27. CADFEM Users' Meeting, 18. - 20. November 2009, Leipzig

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1549. Parameter Identification of Piezoelectric AlGaN/GaN Beam Resonators by Dynamic Measurements

St. Michael, K. Brueckner F. Niebelschuetz K. Tonisch C. Schäffel 10th EuroSimE 2009, 26.-28. April, Delft, Netherlands

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1550. Parameteridentifikation von MEMS auf Wafer-Level mittels dynamischer Messungen

S. Michael, R. Paris S. Hering 6. ITG/GI/GMM-Workshop Multi-Nature Systems: Entwicklung von Systemen mit elektronischen und nichtelektronischen Komponenten, Februar 2007, Erfurt