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1271. Ovutinin

Mit einem neuen Ovulationsschnelltest soll die fruchtbare Phase bis zu 6 Tage vor dem Eisprung bestimmt werden. Image by Serhii Kuch from Pixabay.

Für einen innovativen Schnelltest zur Fertilitätsdiagnostik entwickelt das IMMS einen Bildsensor zur zeitaufgelösten Fluoreszenzmessung.

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1272. PANDIA

Spektroradiometer der neuesten Generation: JETI specbos 2501. In PANDIA wird integrierte Sensorik für solche Geräte entwickelt, um Licht künftig für zahlreiche Anwendungen deutlich besser und effizienter zu analysieren. Foto: JETI GmbH.

IMMS entwickelt neuartige CMOS- und SPAD-Sensor-ICs für Spektroradiometer zur schnelleren und empfindlicheren Analyse von Licht

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1273. Parameter Identification of Membrane Structures - Chances and Limitations

S. Michael, SSI 2010 - MEMUNITY Workshop, 24.03.2010, Grenoble, France

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1274. Parameter Identification of MEMS Membrane and Beam Structures by Modal Analysis and Dynamic Measurements

St. Michael, ANSYS Conference & 27. CADFEM Users' Meeting, 18. - 20. November 2009, Leipzig

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1275. Parameter Identification of Piezoelectric AlGaN/GaN Beam Resonators by Dynamic Measurements

St. Michael, K. Brueckner F. Niebelschuetz K. Tonisch C. Schäffel 10th EuroSimE 2009, 26.-28. April, Delft, Netherlands

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1276. Parameteridentifikation von MEMS auf Wafer-Level mittels dynamischer Messungen

S. Michael, R. Paris S. Hering 6. ITG/GI/GMM-Workshop Multi-Nature Systems: Entwicklung von Systemen mit elektronischen und nichtelektronischen Komponenten, Februar 2007, Erfurt

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1277. Parametric Measurement Unit and Pin Electronics for modular Mixed Signal Test Systems

A. Rolapp, R. Paris Chip, Packaging, Design, Simulation and Test - International Conference, Workshop and Table-top Exhibition 'Semiconductor Conference Dresden 2009' (SCD 2009), 29. - 30. April 2009, Dresden

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1278. Parametric Measurement Unit und Pinelektronik für ein modulares Mixed Signal Testsystem

A. Rolapp, R. Paris 21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 86, 15. - 17. Februar 2009, Bremen

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1279. Parasitic Symmetry at a Glance: Uncovering Mixed-Signal Layout Constraints

Georg Gläser, Benjamin Saft Ralf Sommer FAC 2017, Frontiers in Analog CAD, Frankfurt on the Main, Germany, 21-22 July 2017, pp. 1-6. URL: http://ieeexplore.ieee.org/document/8011279/

Über uns

1280. Partner

Viele Partner aus F&E-Projekten nutzen auch unsere Dienstleistungen und einige binden wir als innovative, zertifizierte Fertigungspartner ein, um die Wertschöpfungskette bis zur Serie abzudecken. Foto (Belichtungsmaske in der Halbleiterfertigung): X-FAB.

Partner: Wir binden innovative, zertifizierte Fertigungspartner ein, um in F&E-Projekten die Wertschöpfungskette abzudecken. Zudem finden Sie hier einen Überblick zu unseren Projektpartnern aus Wissenschaft und Industrie und Infos, wie Sie Partner werden können.