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Karriere

111. Fragen zu Stellenausschreibungen

Hier beantworten wir Fragen zu Stellenausschreibungen

Karriere

112. Fragen und Antworten

Hier beantworten wir häufig gestellte Fragen zum Bewerbungsprozess

Veranstaltung

113. IT-KOM 2025

Zwei Personen neben einer Messewand und hinter einem Tisch mit Elektronik und Infomaterial.

Kontaktmesse der Fachrichtung Angewandte Informatik an der FH Erfurt

Referenz

114. High-Sensitive Demodulator with Built-in Negative Offset Comparator for Passive UHF RFID Tags

Rohit Kesharwani, Andre Jäger Martin Grabmann Georg Gläser Eric Schäfer 2024 IEEE International Conference on RFID Technology and Applications (RFID-TA), Daytona Beach, FL, USA, 2024, pp. 109-112, DOI: https://doi.org/10.1109/RFID-TA64374.2024.10965142

Referenz

115. A method for dynamic interferometric characterization of air bearings for nanopositioning stages

Steffen Hesse, Michael Katzschmann Alex Huaman Parastoo Salimitari Ludwig Herzog Internationales Wissenschaftliches Symposium zum Welttag der Interferometrie, 8. - 9. April 2025, Technische Universität Ilmenau, Ilmenau

Veranstaltung

116. WID 2025

World Interferometry Day

Veranstaltung

117. Girls’Day 2025

Welche Aufgaben hat eigentlich ein Forschungsinstitut und wie sieht der Arbeitstag einer Ingenieurin aus?

Referenz

118. NeuroSensEar: Neuromorphic acoustic sensing for the high-performance hearing aids of tomorrow

Claudia Lenk, Yuxuang He, Alirheza Hosseini, Fang Zheng Aayushmi Mukherjee, Jakob Abeßer, Lina Jaurigue Kathy Lüdge, Alexander Raake, Tzvetan Ivanov, Iko Pieper Paul Fritzsche, Jan Küller, Daniel Beer Stefan Schöneich, Manuela Nowotny Sebastian Uziel, Tino Hutschenreuther Martin Ziegler DAGA 2025, 51st Annual Meeting on Acoustics, March 17-20, 2025, Copenhagen, Denmark, DOI: https://doi.org/10.71568/dasdaga2025.523

Referenz

119. Quantization-Aware Training for Autoencoder-Based Partitioning of CNNs

Oscar Artur Bernd Berg, Eiraj Saqib Isaac Sánchez Leal Axel Jantsch Irida Shallari Silvia Krug Mattias O’Nils 2025 IEEE International Conference on Pervasive Computing and Communications Workshops and other Affiliated Events (PerCom Workshops), March 17-21, 2025, Washington DC, DC, USA, pp. 261-266, DOI: https://doi.org/10.1109/PerComWorkshops65533.2025.00075

Referenz

120. A virtual metrology frame test setup using fiber interferometric sensors

Davi Anders Brasil, Steffen Hesse Ludwig Herzog Thomas Fröhlich Thomas Kissinger 22nd International Metrology Congress (CIM 2025), Lyon, France, March 11-14, 2025