1714 Ergebnisse
Referenz
  1131. Electrodynamic Linear Drive with Integrated Magnetic Bearing using thin Magnetic Layers  
H. Kube, E. Saffert A. Hoffmann E. Kallenbach MOVIC ´98, Fourth International Conference on Motion and Vibration Control, ETH Zürich, Schweiz, August 1998  
Referenz
  1132. Einstieg in die HF-(Mess-)Technik  
Björn Bieske, HAM Radio, Internationale Amateurfunk-Ausstellung, 28. - 30. Juni 2024, Friedrichshafen, Germany  
Referenz
  1133. Einsatz eines Modularen Test-Systems für Mixed Signal Tests  
I. Gryl, V. Schulze 21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 129, 15. - 17. Februar 2009, Bremen  
Referenz
  1134. Einsatz drahtloser Sensornetzwerke zur Gebäudeautomatisierung  
W. Kattanek, 7th Conference of Advanced Science 'Sensorsysteme 2008', 16. - 18. Oktober 2008, Lichtenwalde, Germany  
Referenz
  1135. Eingebettetes Linux-System auf ARM-Basis als echtzeitfähiger EtherCATMaster  
Th. Elste, Wissenschaftliche Zeitschrift der Hochschule Mittweida: Embedded Systems, Band 10, S. 13-16, Hochschule Mittweida, 2008  
Referenz
  1136. Eingebettetes Linux-System auf ARM-Basis als echtzeitfähiger EtherCATMaster  
Th. Elste, Internationales Wissenschaftliches Kolloquium IWKM 2008, 06. November 2008, Mittweida, Germany  
Forschungsfeld
  1137. Eingebettete KI  
Kernthema Eingebettete KI im Forschungsfeld Intelligente vernetzte Mess- und Testsysteme: Die zahlreich vorhandenen KI-Algorithmen und -Methoden für leistungsfähige Rechentechnik sind für eingebettete Systeme ungeeignet. Wir forschen daran, KI-Algorithmen und Methoden so zu optimieren, dass sie auf eingebetteten Systemen einsetzbar sind.  
Referenz
  1138. Eingebettete elektronische Systeme zur Integration von Sensorik  
H. Töpfer, 31.03.2006, 2. Konferenz 'Sensorik aus Thüringen', Ilmenau  
Referenz
  1139. Einfluss von MAC-Protokollen auf Quality-of-Service Parameter in 6LoWPAN-Netzwerken  
Silvia Krug, InIT-Seminar, TU Ilmenau, Ilmenau, 12.12.2012  
Referenz
  1140. Einfluss der Messumgebung auf die Performance des HF-Tests  
Björn Bieske, Alexander Schulz 25. GI/GMM/ITG-Workshop: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ), Dresden, 24.02.2013 - 26.02.2013  
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