2115 Ergebnisse
Referenz
  1011. Hinters Licht geführt – Optical Wireless Links  
Christian Jordan, Andreas Bluschke Ralf Boden Ulrich Liebold Philipp Rietzsch 11. ITG Fachkonferenz Breitbandversorgung, 29.-30. März 2017, Fraunhofer Heinrich-Hertz-Institut, Berlin  
Veranstaltung
  1012. HiTEN 2017  
International Conference and Exhibition on High Temperature Electronics Network  
Veranstaltung
  1013. HiTEN 2019  
International Conference and Exhibition on High Temperature Electronics Network  
Referenz
  1014. Hitzefest - Design von Mixed-Signal-Hochtemperatur-ICs  
St. Richter, W. Göttlich D. Nuernbergk V. Nakov S. Bormann Design & Elektronik, Sonderdruck, S. 56f, März 2002  
Pressemitteilungen
  1015. Hochempfindliche Beschleunigungsmessung mit kleinem MEMS-Sensor  
IMMS erhält iENA-Bronzemedaille für mikroelektromechanischen Beschleunigungssensor  
Pressemitteilungen
  1016. Hochgenau und batteriefrei per RFID messen  
IMMS-Doktorand verteidigt Dissertation zu präziser passiver RFID-Sensorik  
Pressemitteilungen
  1017. Hochpräzise Antriebe dürfen aus dem Vakuum  
PTB und IMMS erhalten iENA-Bronzemedaille für neue Dichtungsanordnung zur präziseren Wegmessung in Hightech-Anwendungen  
Referenz
  1018. Hochpräzise positionieren – Integrierter 6-DOF-Direktantrieb bewegt Objekte nanometergenau im Raum  
Christoph Schäffel, Konstruktion, Sonderteil Antriebstechnik, https://www.ingenieur.de/fachmedien/konstruktion/antriebstechnik/hochpraezise-positionieren/, 13. Oktober 2020  
Referenz
  1019. Hochtemperatur-Wafertest bis 300°C  
Marco Reinhard, Ulrich Liebold André Richter Ingo Gryl 28. GMM/GI/ITG Workshop – Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen, TuZ 2016, 06.03.2016 - 08.03.2016, Siegen, Germany  
Pressemitteilungen
  1020. Hohe Qualität der wissenschaftlichen Arbeit am IMMS  
Wir stehen für eine hohe Qualität der wissenschaftlichen Arbeit am IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH. Unsere Regeln für die Sicherung guter wissenschaftlicher Praxis und den Umgang mit wissenschaftlichem Fehlverhalten finden sie in folgendem Dokument:  
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