91. VE-ARiS: Alberich und die Tarnkappenfabrik. SKAW – Schaltungskopierbarkeitsanalysewerkzeug   Adrian Pitterling, Florian Kögler Georg Gläser Tage der vertrauenswürdigen Elektronik 2024, 4. - 5. Juni 2024, München  

  92. VE-ARiS – „Alberich“ – Machine-Learning-basierte Vorhersage der Kopierbarkeit von ASICs   Florian Kögler, Digitale Fachkonferenz „Vertrauenswürdige Elektronik 2022“, 9. - 10. März 2022, online  

  94. Validierung KI-basierter Simulationsmethoden im Chip-Entwurf, Testbench in Hardware   Tom Reinhold, Elektronik, 25.2023, 29. November 2023, Seite 60 - 64, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2325D  

  95. UVM-based Verification of Smart-Sensor Systems   Muralikrishna Sathyamurthy, Felix Neumann Lukasz Kotynia Eckhard Hennig Ralf Sommer International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), 2012, Digital Object Identifier: 10.1109/SMACD.2012.6339407, ISBN 978-1-4673-0685-0  

  96. UVM-based Verification of Smart-Sensor Systems   Muralikrishna Sathyamurthy, Felix Neumann Lukasz Kotynia Eckhard Hennig Ralf Sommer International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), 2012, Seville, Spain, 19.09.2012-21.09.2012  

  98. Utilization of Additional Nodes in Hybrid DTN-MANET Scenarios   Silvia Krug, Max Helbig Jochen Seitz 2017 12th Workshop on Challenged Networks (CHANTS) Co-located with ACM MobiCom, 16-20 October 2017, DOI: https://doi.org/10.1145/3124087.3124099, Snowbird, Utah, USA  

  99. Using Wireless Sensor Networks for Object Location and Monitoring   Frank Senf, Silvia Krug Tino Hutschenreuther 16. GI/ITG KuVS Fachgespräch "Sensornetze", 08. September 2017, HAW Hamburg  

  100. Using WiCkeD in MEMS Design   Volker Boos, MunEDA User Group Meeting, München, 10.10.2013-11.10.2013