Stimmen aus der Industrie
Hier finden Sie Referenzschreiben unserer Industriepartner. Herzlichen Dank dafür.
Referenz
Hans-Christian Fritsch, Ilmsens
„Uns hat es besonders gefreut, dass wir als Thüringer Startup mit dem IMMS eine innovative hochtechnologische Lösung mit dem Thüringer Halbleiterhersteller X-FAB realisieren konnten. Wir schätzen die hohe Expertise und Flexibilität sowie die kundenorientierte und die zielgerichtete Arbeitsweise der Kollegen am IMMS.“
Referenz
Christian Paintz, Melexis
„Insbesondere bei der Auswertung von Messdaten hat das IMMS eindrucksvoll demonstriert, dass ein lernender Algorithmus der manuellen Auswertung ebenbürtig ist – bei gleichzeitig großer Zeitersparnis. Auch die Methoden zur Schaltungs- und Layoutanalyse verfolgen wir weiter, da wir auch hier ein großes Forschungs- und Anwendungspotential sehen.“
Referenz
Friedrich Becker, TURCK Electronics GmbH
„Das IMMS hat mit seinen Erfahrungen in der Entwicklung von Signalverarbeitungs-, Kommunikations- und Systemintegrationslösungen für Industrieanwendungen im Projekt wesentlich dazu beigetragen, dass die wissenschaftlichen Ergebnisse der Chemnitzer und Offenburger Partner zur theoretischen Basis der Kabeldiagnose und zu Kommunikationsschnittstellen in praktikable Lösungen für die Industrie münden.“
Referenz
Dr. Michael Neubert, Baker Hughes Inteq GmbH
„Um die hohen Anforderungen an Funktionalität und Zuverlässigkeit unserer Werkzeuge bei gleichzeitig hoher Schaltungskomplexität zu erfüllen, realisieren wir in zunehmendem Maße unsere elektronischen Module mit Hilfe integrierter Schaltungstechnik. Bei diesem umfangreichen Vorhaben haben wir das IMMS um fachkundige Unterstützung gebeten und dabei die Expertise und Zielstrebigkeit der IMMS-Kollegen sehr zu schätzen gelernt.“
Referenz
Dr. Denis Dontsov, SIOS Meßtechnik GmbH
„Mit dem Ergebnis sind wir äußerst zufrieden: Die erreichten Positionierresultate zeigen ein hohes Potential für unsere künftigen kundenspezifischen Problemstellungen und auch für neuartige Nanopositioniersysteme von SIOS mit deutlich vergrößertem Messbereich.“