Dr.-Ing. Dirk Nuernbergk, Melexis

„Wir liefern seit über zwanzig Jahren ICs an die Autoindustrie. Unser Forschungs- und Entwicklungsteam arbeitet pro Jahr an Dutzenden neuen, intelligenten ICs und Sensorkomponenten. Diese sollen nicht nur Pkw, Lkw und Geländegeräte sicherer, zuverlässiger und energieeffizienter machen, sondern auch Systeme für Home Automation, Industrie und Medizin.

Die ICs beinhalten immer mehr intelligente Funktionsblöcke und werden damit zunehmend komplexer. Das heißt, es müssen immer mehr Funktionen immer kompakter auf einer Chip-Fläche angeordnet werden. Dadurch kann es zu physikalischen Effekten kommen, die nicht mit der gewünschten Funktion zusammenhängen, wie z.B. das Übersprechen durch nebeneinanderliegende Leitungen. Layouts müssen daher oft in vielen Schritten mit viel Aufwand optimiert werden. Standard-Werkzeuge melden zwar Fehler, können aber nicht die Elemente identifizieren, die Fehler verursachen und verändert werden müssen. Will man aus wirtschaftlichen Überlegungen Chip-Flächen minimieren und dort gleichzeitig kompaktere Layouts unterbringen, kommt das quasi einer Quadratur des Kreises gleich: Je nach Komplexität der Schaltung würde das für einen Designer bedeuten, mehrere hundert bis tausend potentielle Fehlerquellen manuell modifizieren und Auswirkungen einzelner Kopplungen untersuchen zu müssen.

Das IMMS hat eine neue Methode entwickelt und in einem Programm implementiert, das automatisch kritische parasitäre Elemente beim Schaltungsentwurf findet und bewertet. Die zeitaufwendige Layout-Optimierung kann so stark beschleunigt werden. Eine Evaluation dieser Methodik machte das hohe Potential deutlich: Wir konnten in kürzester Zeit die Problemstellen dreier Schaltungen identifizieren. Wir freuen uns darauf, dieses Vorgehen auch zukünftig für unsere Designs einzusetzen.“