81. VE-VIDES – AP2, Design, Architektur und Modellierung, Vertrauenswürdig?   Georg Gläser, Digitale Fachkonferenz „Vertrauenswürdige Elektronik 2022“, 9. - 10. März 2022, online  

  83. VE-ARiS: Elektronischer Knowhow-Schutz für innovative Sensorsysteme. Abwehr von Reserve-Engineering auf IC-Ebene   Projektkonsortium VE-ARiS (iC-Haus GmbH, Wachendorff Automation GmbH & Co. KG, IMMS GmbH), Tage der vertrauenswürdigen Elektronik 2024, 4. - 5. Juni 2024, München  

  84. VE-ARiS: Alberich und die Tarnkappenfabrik. SKAW – Schaltungskopierbarkeitsanalysewerkzeug   Adrian Pitterling, Florian Kögler Georg Gläser Tage der vertrauenswürdigen Elektronik 2024, 4. - 5. Juni 2024, München  

  85. VE-ARiS – „Alberich“ – Machine-Learning-basierte Vorhersage der Kopierbarkeit von ASICs   Florian Kögler, Digitale Fachkonferenz „Vertrauenswürdige Elektronik 2022“, 9. - 10. März 2022, online  

  87. Validierung KI-basierter Simulationsmethoden im Chip-Entwurf, Testbench in Hardware   Tom Reinhold, Elektronik, 25.2023, 29. November 2023, Seite 60 - 64, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2325D  

  88. UVM-based Verification of Smart-Sensor Systems   Muralikrishna Sathyamurthy, Felix Neumann Lukasz Kotynia Eckhard Hennig Ralf Sommer International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), 2012, Digital Object Identifier: 10.1109/SMACD.2012.6339407, ISBN 978-1-4673-0685-0  

  89. UVM-based Verification of Smart-Sensor Systems   Muralikrishna Sathyamurthy, Felix Neumann Lukasz Kotynia Eckhard Hennig Ralf Sommer International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), 2012, Seville, Spain, 19.09.2012-21.09.2012