81. Vergleich der Scan-Perfomance bei Nanopositioniersystemen mit großem Bewegungsbereich   Stephan Zschäck, Steffen Hesse Avid Amthor Michael Katzschmann Christoph Schäffel Christoph Ament tm – Technisches Messen, Oldenbourg Verlag, Band 81, Heft 6, Seiten 335 – 342, ISSN (Online) 2196-7113, ISSN (Print) 0171-8096, DOI: http://dx.doi.org/10.1515/teme-2014-0358, May 2014  

  82. Verfahren zur automatischen Topologiemodifikation beim Entwurf von analogen integrierten Schaltungen   Ralf Sommer, Eric Schäfer Dominik Krauße Eckhard Henning DE 10 2011 113 421 A1  

  83. Verfahren zum Erweitern und Verwenden eines Modells zum Simulieren einer elektronischen Schaltung   Georg Gläser, Martin Grabmann DE 10 2021 126 108 A1  

  84. Verfahren zum Bestimmen einer Widerstandsauslenkung einer Wheatstone-Brücke in einer Hochtemperaturumgebung   Georg Gläser, André Richter Dirk Nuernbergk Dagmar Kirsten DE 10 2016 113 283 A1  

  85. Verfahren und Sensoranordnung zum Überwachen einer Funktion eines Bauteiles einer Maschine   Rick Pandey, DE 10 2024 100 703 B3  

  86. Verfahren und Schaltung zum Bestimmen des Zeitpunkts eines Extremums einer sich zeitlich verändernden Kapazität   Eric Schäfer, Benjamin Saft DE 10 2013 113 378 B4  

  87. Verbesserung der Dynamik von Schrittmotorantrieben durch nichtlineare Regelung   M. Carl, M. Eichhorn K. König E. Räumschüssel 2. Deutsch-polnischer Workshop, Ilmenau, Mai 1998  

  88. VE-VIDES – AP2, Design, Architektur und Modellierung, Vertrauenswürdig?   Georg Gläser, Digitale Fachkonferenz „Vertrauenswürdige Elektronik 2022“, 9. - 10. März 2022, online  

  90. VE-ARiS: Elektronischer Knowhow-Schutz für innovative Sensorsysteme. Abwehr von Reserve-Engineering auf IC-Ebene   Projektkonsortium VE-ARiS (iC-Haus GmbH, Wachendorff Automation GmbH & Co. KG, IMMS GmbH), Tage der vertrauenswürdigen Elektronik 2024, 4. - 5. Juni 2024, München