661. Interferometric Test Station for Parallel Inspection of MEMS   C. Schäffel, S. Michael R. Paris A. Frank N. Zeike K. Gastinger M. Kujawinska U. Zeitner S. Beer Dresden: 5. Tagung 'Feinwerktechnische Konstruktion'. http://141.30.123.140/feinwerkwiki/index.php/5._Tagung_Feinwerktechnische_Konstruktion  

  662. Interferometric Test Station for Parallel Inspection of MEMS   C. Schäffel, S. Michael R. Paris A. Frank N. Zeike K. Gastinger M. Kujawinska U. Zeitner S. Beer. Dresden: 5. Tagung 'Feinwerktechnische Konstruktion'. 03.11.2011  

  663. Ein Tool-Framework zur Technologiemigration analoger Schaltungen   V. Boos, J. Nowak Erlangen: Analog 2011  

  664. Ein Tool-Framework zur Technologiemigration analoger Schaltungen   V. Boos, J. Nowak Erlangen: in Proceedings ANALOG 2011. GMM-Fachbericht Band 70. CD-ROM. ISBN 978-3-8007-3369-9  

  665. Interferometric controlled planar nanopositioning system with 100mm circular travel range   S. Hesse, C. Schäffel M. Katzschmann H.-J. Büchner Denver, USA: ASPE 26th Annual Meeting of the American Society for Precision Engineering. in Proceedings, CD-ROM  

  666. SyEnA - Syntheseunterstützter Entwurf analoger Schaltungen   A. Graupner, R. Jancke P. Jores J. Nowak R. Popp Newsletter edacentrum. S. 5-16  

  667. Frequency compensation for a class of DAE's arising in electrical circuits   E. Hennig, D. Krauße E. Schäfer R. Sommer C. Trunk H. Winkler PAMM (Proc. Appl. Math. Mech.). S. 837-838  

  668. Entworfen und bewegt   C. Schäffel, M. Katzschmann 11.2011. Der Konstrukteur S. 22-23  

  669. RFID und NFC - Bindeglieder synchronisierter Welten   W. Sinn, Dresden: 5. Dresdner RFID-Symposium, 09.12.2011