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Referenz
  51. Energy-efficient Sensor Systems for Environmental Monitoring  
Marco Götze, AI4PlantPhysio-Workshop, 16. Juli 2025, Universität Konstanz, Germany  
Forschungsfeld
  52. Integrierte Sensorsysteme  
Forschungsfeld Integrierte Sensorsysteme: Hier erforschen wir in Halbleitertechnologien gefertigte miniaturisierte Systeme aus mikroelektronischen Komponenten für sensorische Anwendungen sowie Methoden, um diese hochkomplexen Systeme effizient und sicher zu entwerfen.  
Referenz
  53. Application of the Expert Design Plan Methodology on an Ultra-Low-Power Sensor Frontend  
Lorenz Renner, Ralf Sommer Yannick Uhlmann 2025 21th International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), July 7 - 10, 2025, Istanbul, Turkiye, pp. 1-4, DOI: https://doi.org/10.1109/SMACD65553.2025.11092185  
Referenz
  54. Trust is Good, Monitoring is Better: FPGA- & TEE-Based Monitoring for Malware-Detection  
Friederike Bruns, Georg Gläser Florian Kögler Jonas Lienke Nithin R. Nanjundaswamy Gregor Nitsche Behnam R. Perjikolaei Jörg Walter 13th IMA International Conference on Modelling in Industrial Maintenance and Reliability MIMAR2025, July 8-10, 2025, Université de Lorraine, France, DOI: https://doi.org/10.19124/ima.2025.01.25  
Referenz
  55. HF-Messtechnik 2: Klein gegen Groß – nanoVNA: messen und kalibrieren  
Björn Bieske, HAM Radio, Internationale Amateurfunk-Ausstellung, 27. - 29. Juni 2025, Friedrichshafen, Germany  
Referenz
  56. Demonstration einer automatisierten Bewässerungssteuerung für den Obstbau  
Silvia Krug, Thüringer Kirschentag 2025, 25. Juni 2025, Thüringer Landesamt für Landwirtschaft und Ländlichen Raum, Lehr- und Versuchszentrum Gartenbau (LVG), Erfurt  
Referenz
  57. Datenaustauschaspekte entlang der Wertschöpfungskette Obst im Projekt MIRO  
Silvia Krug, Bernburger Innovationstage, 18. - 19. Juni 2025, Hochschule Anhalt, Bernburg-Strenzfeld  
Referenz
  58. DI-Meta-X  
Im Projekt Meta-X entstehen innovative Werkzeuge für den IC-Entwurf.  
Referenz
  59. TCL: Time-Dependent Clustering Loss for Optimizing Post-Training Feature Map Quantization for Partitioned DNNs  
Oscar Artur Bernd Berg, Eiraj Saqib Axel Jantsch Irida Shallari Silvia Krug Isaac Sánchez Leal Mattias O’Nils in IEEE Access, vol. 13, pp. 103640-103648, 2025, DOI: https://doi.org/10.1109/ACCESS.2025.3579107  
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  60. OptoMed-Vakuumluftlager  
Aufbau aus Metallrohren, Leitungen und Messgeräten auf einem Labortisch. Luftlager in Hochpräzisions-Vakuumanwendungen? Mit unseren Partnern loten wir das technisch Machbare dieses (scheinbaren) Widerspruchs aus.  
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