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  541. Test von differentiellen 2,4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBeeTM ICs: Grenzen und Möglichkeiten  
B. Bieske, M. Lange S. Beyer 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt  
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  542. Programmierbare Präzisionsreferenzspannungsquelle durch Nutzung eines analogen Floating-Gate-Speicherelements  
D. Kirsten, Dr. D. Nuernbergk 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt, in Proceedings  
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  543. Programmierbare Präzisionsreferenzspannungsquelle durch Nutzung eines analogen Floating-Gate-Speicherelements  
D. Kirsten, Dr. D. Nuernbergk 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt  
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  544. Hierarchische Entwurfsmethodik mit automatischer Bottom-Up-Topologiemodifikation und spezifikationsgetriebener Dimensionierung. (Kooperation der TU Ilmenau & IMMS GmbH).  
D. Krauße, E. Schäfer Prof. Dr. R. Sommer Dr. E. Hennig 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt, in Proceedings  
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  545. A CMOS/BiCMOS Current Amplifier Topology for Optoelectronic Receiver Applications - Symbolic Analysis and Design Rules  
Dr. B. Dimov, Dr. C. Lang Dr. E. Hennig 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt, in Proceedings  
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  546. Gradientenbasierte Eigenwertoptimierung zur Frequenzgangskompensation linearer Analogschaltungen. (Kooperation der TU Ilmenau & IMMS GmbH)  
E. Schäfer, D. Krauße Prof. Dr. R. Sommer Dr. E. Hennig 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt, in Proceedings  
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  547. Testfeld zur Charakterisierung von Laserspot-Größen zur Untersuchung und Modellierung des HF-Verhaltens von pin-Fotodioden  
M. Reinhard, U. Liebold G. Methner M. Meister Dr. D. Nuernbergk 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt, in Proceedings  
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  548. Testfeld zur Charakterisierung von Laserspot-Größen zur Untersuchung und Modellierung des HF-Verhaltens von pin-Fotodioden  
M. Reinhard, U. Liebold G. Methner M. Meister Dr. D. Nuernbergk 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt  
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  549. SMARTIEHS - a European Project for Parallel Testing of M(O)EMS  
S. Michael, K. Gastinger M. Kujawinska U. Zeitner J. Albero S. Beer R. Moosburger M. Pizzi Smart Systems Integration, 23.03.-24.03.2010, Como, Italy  
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