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321. ANCONA - Analog/Mixed-Signal Verifikationsmethoden für die AMS Coverage-Analyse

Andreas Fürtig, Lars Hedrich, Georg Gläser, Ralf Sommer Christoph Grimm Stefan Heinen Hyun-Sek Lukas Lee, Markus Olbrich Gregor Nitsche Ralf Popp Thiyagarajann Purusothaman, Carna Radojicic Fabian Speicher Dieter Treytnar Newsletter edacentrum 01/02 2016, Seite 05-20

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322. Andrea Kulik, FRIZ Biochem

Beeindruckt hat uns insbesondere die Fähigkeit von IMMS, die Schnittstelle zwischen biochemischer Anwendung und elektronischer Signalverarbeitung ganzheitlich zu denken. Dadurch konnten unsere biochemischen und technischen Anforderungen präzise in mikroelektronische Konzepte übersetzt und flächeneffizient umgesetzt werden.

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323. Andy Carius, Indu-Sol

„Die gemeinsame Arbeit war von vielen eigenen Ideen und sehr viel Engagement durch das IMMS geprägt und wir werden uns hier in zukünftigen Projekten, insbesondere im Bereich der Datenauswertung und Klassifizierung, gern wieder an das IMMS wenden, da wir diese Art der Zusammenarbeit sehr schätzen.“

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324. Anforderungen an den Entwurf von elektronischen Leistungsstellgliedern kleiner Leistungen

K. Förster, Beitrag zum Konzept Design Cluster Mikrosystemtechnik/Mechatronik, STIFT, Erfurt, Juli 1997

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325. Anforderungen an FSM-Tools beim hierachischen Entwurf paralleler digitaler Steuerungen

W. Kattanek, In: 42. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium Band 1, S. 498-503. Technische Universität Ilmenau, 1997

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326. Anforderungen an FSM-Tools beim hierarchischen Entwurf paralleler digitaler Steuerungen

W. Kattanek, 42. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, September 1997, Ilmenau

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327. Anforderungen an FSM-Tools beim hierarchischen Entwurf paralleler digitaler Steuerungen

W. Kattanek, In: 42. Internationales Wissenschaftliches Kolloqium Band 1, S. 498-503. Technische Universität Ilmenau, 1997

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328. Anhörung zur Problematik Ingenieurnachwuchs

F. Rößler, Thüringer Landtag, Erfurt, Juni 2000

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329. Anknüpfungspunkte für das Clusterforschungsprojekt ANCONA – Ideen der Projektpartner zur Überführung in die industrielle Anwendung

Georg Gläser, Andreas Fürtig Markus Olbrich Gregor Nitsche Fabian Speicher Christoph Grimm Newsletter edacentrum 01/02 2017, 2. Dezember 2017

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330. Anordnung von Referenzmarken auf Messrasterplatten und Referenzmarkensensoren auf dem dazugehörigen optoelektronisch arbeitenden Messkopf

V. Bornmann, H.-U. Mohr Ch. Schäffel Deutsche Patentmeldung DE 102 30 614.1-52, Juli 2002