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Referenz
211.
TCL: Time-Dependent Clustering Loss for Optimizing Post-Training Feature Map Quantization for Partitioned DNNs
Referenz
215.
SystemC-AMS unterstütztes Design eines eingebetteten Analog- /Mixed-Signal-Systems mit kostengünstigem Mikrocontroller
Referenz
216.
SystemC-AMS unterstütztes Design eines eingebetteten Analog- /Mixed-Signal-Systems mit kostengünstigem Mikrocontroller
Referenz
217.
SystemC (-AMS) zur frühzeitigen Validierung und Optimierung des Systemkonzeptes komplexer Smart-Sensor-Systeme