211. The sound of ultrasound   Nicki Bader, Peter Holstein Hans-Joachim Münch Sebastian Uziel Tino Hutschenreuther Steffen Seitz 26th International Congress on Sound and Vibration (ICSV26), 7 - 11 July 2019, Montréal, Canada, ISBN: 9781510892699  

  212. The Rapid Single-Flux Quantum Technology - a Promising Alternative for the Development of High-Performance Digital Electronics   B. Dimov, T. Ortlepp H. F. Uhlmann Kleinheubacher Tagung 2007, 24.-27. September 2007, Miltenberg  

  213. The asynchronous rapid single-flux quantum electronics - a promising alternative for the development of high-performance digital circuits   B. Dimov, Th. Ortlepp V. Mladenov S. Terzieva F. H.Uhlmann Advances in Radio Science, Kleinheubacher Berichte, 6, 1-9, 2008  

  214. The angle dependent ΔE effect in TiN/AlN/Ni micro cantilevers   Bernd Hähnlein, Maria Kellner Maximilian Krey Alireza Nikpourian Jörg Pezoldt Steffen Michael Hannes Töpfer Stefan Krischok Katja Tonisch Sensors and Actuators A: Physical, Volume 345, 2022, 113784, ISSN 0924-4247, DOI: https://doi.org/10.1016/j.sna.2022.113784  

  216. Testsystem für die Charakerisierung analoger und digitaler Strukturen – Mixed-Signal-Analyse wird mobiltauglich   Tom Reinhold, Elektronik, 24.2024, 26. November 2024, Seite 70 - 73, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2424D  

  217. Teststrategien für HF-ICs vom Labor zur Produktion   B. Bieske, P. Witzenhausen 18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.2006  

  218. Testschaltung für MEMS-Inertialsensoren-Auswerte-ASIC   Roman Paris, Peter Kornetzky Jenny Klaus 28. GMM/GI/ITG Workshop – Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen, TuZ 2016, 06.03.2016 - 08.03.2016, Siegen, Germany  

  219. Testmöglichkeiten auf Waferebene am IMMS   M. Meister, 49. Mikroelektronik-Seminar, 05.05.2010, Erfurt  

  220. Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckströmen   D. Kirsten, A. Rolapp Dr. D. Nuernbergk 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung - ZuE (Zuverlässigkeit und Entwurf) 2010, 13.09.-15.09.2010, Wildbad Kreuth