211. Themenkreis Virtual Test und automatische Testplangenerierung aus ATML   D. Glaser, P. Lu K. Helmreich I. Gryl M. Meister A. Lechner M. Jegler Z. Kiss Virtuelle Instrumente in der Praxis VIP 2010, 27.10.-28.10.2010, München, Proceedings  

  212. The sound of ultrasound   Nicki Bader, Peter Holstein Hans-Joachim Münch Sebastian Uziel Tino Hutschenreuther Steffen Seitz 26th International Congress on Sound and Vibration (ICSV26), 7 - 11 July 2019, Montréal, Canada, ISBN: 9781510892699  

  213. The Rapid Single-Flux Quantum Technology - a Promising Alternative for the Development of High-Performance Digital Electronics   B. Dimov, T. Ortlepp H. F. Uhlmann Kleinheubacher Tagung 2007, 24.-27. September 2007, Miltenberg  

  214. The asynchronous rapid single-flux quantum electronics - a promising alternative for the development of high-performance digital circuits   B. Dimov, Th. Ortlepp V. Mladenov S. Terzieva F. H.Uhlmann Advances in Radio Science, Kleinheubacher Berichte, 6, 1-9, 2008  

  215. The angle dependent ΔE effect in TiN/AlN/Ni micro cantilevers   Bernd Hähnlein, Maria Kellner Maximilian Krey Alireza Nikpourian Jörg Pezoldt Steffen Michael Hannes Töpfer Stefan Krischok Katja Tonisch Sensors and Actuators A: Physical, Volume 345, 2022, 113784, ISSN 0924-4247, DOI: https://doi.org/10.1016/j.sna.2022.113784  

  217. Testsystem für die Charakerisierung analoger und digitaler Strukturen – Mixed-Signal-Analyse wird mobiltauglich   Tom Reinhold, Elektronik, 24.2024, 26. November 2024, Seite 70 - 73, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2424D  

  218. Teststrategien für HF-ICs vom Labor zur Produktion   B. Bieske, P. Witzenhausen 18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.2006  

  219. Testschaltung für MEMS-Inertialsensoren-Auswerte-ASIC   Roman Paris, Peter Kornetzky Jenny Klaus 28. GMM/GI/ITG Workshop – Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen, TuZ 2016, 06.03.2016 - 08.03.2016, Siegen, Germany  

  220. Testmöglichkeiten auf Waferebene am IMMS   M. Meister, 49. Mikroelektronik-Seminar, 05.05.2010, Erfurt