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IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH) - Logo IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH) - Logo

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Referenz
  1941. A Novel Low-Voltage Bandgap Reference Topology  
 
Referenz
  1942. A novel low leakage EEPROM cell for application in an extended temperature range (-40°C up to 225°C)  
 
Referenz
  1943. A novel low leakage EEPROM cell for application in an extended temperature range (-40°C up to 225°C)  
 
Referenz
  1944. A new XY linear stage for Nano technology - The stage can draw 3 diameter true circle  
 
Referenz
  1945. A new tool for industrial tribology - Filling the gap between macro- and nano-tribology  
 
Referenz
  1946. A New Low Voltage Bandgap Reference Topology  
 
Referenz
  1947. A Modular Platform to Build Task Specific IoT Network Solutions for Agriculture and Forestry  
Silvia Krug, Marco Götze, Sören Schneider, Tino Hutschenreuther, Pisa, Italy 2023 2023 IEEE International Workshop on Metrology for Agriculture and Forestry (MetroAgriFor)  
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  1948. A modular application specific active test environment for high-temperature wafertest up to 300 °C  
Michael Meister, Marco Reinhard, St. Anne’s College in the University of Oxford, Oxford, United Kingdom 2019 International Conference and Exhibition on High Temperature Electronics Network (HiTEN 2019)  
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  1949. A methodology for high-level design of machine vision systems using SystemC  
 
Referenz
  1950. A method for dynamic interferometric characterization of air bearings for nanopositioning stages  
Steffen Hesse, Michael Katzschmann, Alex S. Huaman, Parastoo Salimitari, Ludwig Herzog, Technische Universität Ilmenau, Ilmenau 2025 Internationales Wissenschaftliches Symposium zum Welttag der Interferometrie  
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