1901. TEEMSC – Trainable Energy Efficient Machine Diagnosis using Singular Values and Canonical Crosscorrelation   Rick Pandey, Sebastian Uziel Tino Hutschenreuther Silvia Krug IEEE International Workshop on Metrology for Industry 4.0 and IoT, Florence, Italy, May 29-31, 2024, DOI: https://doi.org/10.1109/MetroInd4.0IoT61288.2024.10584173  

  1903. A Charge Pump System with Controlled Input Impedance for Optimized RFID Energy Harvesting   Rohit Kesharwani, Andre Jäger Martin Grabmann David Schreiber Georg Gläser Hani Abdullah Eric Schäfer 2024 IEEE International Conference on RFID (RFID), Boston, MA, USA, June 4-6, 2024, DOI: https://doi.org/10.1109/RFID62091.2024.10582749  

  1906. VE-ARiS: Elektronischer Knowhow-Schutz für innovative Sensorsysteme. Abwehr von Reserve-Engineering auf IC-Ebene   Projektkonsortium VE-ARiS (iC-Haus GmbH, Wachendorff Automation GmbH & Co. KG, IMMS GmbH), Tage der vertrauenswürdigen Elektronik 2024, 4. - 5. Juni 2024, München  

  1907. VE-ARiS: Alberich und die Tarnkappenfabrik. SKAW – Schaltungskopierbarkeitsanalysewerkzeug   Adrian Pitterling, Florian Kögler Georg Gläser Tage der vertrauenswürdigen Elektronik 2024, 4. - 5. Juni 2024, München  

  1908. What The Fuzz (WTF): A Framework for Fuzz Testing ASIC Designs   Henning Siemen, Georg Gläser Tage der vertrauenswürdigen Elektronik 2024, 4. - 5. Juni 2024, München  

  1910. Enhancing Chemiluminescence-Detection with Dark-Count Rate Optimization Strategies for SPADs in Conventional CMOS Technologies   Benjamin Saft, Alexander Zimmer Maximilian Wiener Mirjam Skadell Eric Schäfer ISSW 2024, The International SPAD Sensor Workshop & the SPAD SENSOR SCHOOL, Trento, Italy, June 3 - 6, 2024