1801. Geometric Parameter Identification for Bulk-Micromachined Accelerometer from Modal Frequencies Measurements   St. Michael, S. Hering M. Katzschmann EuroSimE - Thermal, Mechanical and Multiphysics Simulation and Experiments in Micro-Electronics and Micro-Systems, 24-26.04.2006, Como (Mailand), Italien  

  1802. Modellbasierter Entwurf für Applikationen mit FPGA   H. Töpfer, 19.04.2006, 14. NEMO-VisQuaNet-Meeting 'Einfache Programmierung von FPGA für die industrielle Bildverarbeitung', Ilmenau  

  1803. Eingebettete elektronische Systeme zur Integration von Sensorik   H. Töpfer, 31.03.2006, 2. Konferenz 'Sensorik aus Thüringen', Ilmenau  

  1804. Experiences porting the Linux Kernel to an ARM platform   R. Peukert, Th. Elste Linux OS Workshop, 22.03.06, Konstanz  

  1805. Analysegeräte und Instrumente für die Automatisierungtechnik   W. Sinn, Innovationsforum Grenzflächenfunktionaliierung / Biointerfaces, 16./17.03.2006 Heilbad Heiligenstadt  

  1806. Teststrategien für HF-ICs vom Labor zur Produktion   B. Bieske, P. Witzenhausen 18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.2006  

  1807. Messung von Empfindlichkeitsprofilen an Fotodioden   M. Meister, 18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.2006  

  1808. Messung von Empfindlichkeitsprofilen an Fotodioden   M. Meister, 18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.2006  

  1809. High reliability EEPROM design for high-temperature applications   D. Kirsten, S. Richter D. Nuernbergk St. Richter Second Workshop of the Thematic Network on Silicon on Insulator technology, devices and circuits (EUROSOI), Grenoble, Frankreich, 8.-10. März, 2006  

  1810. Investigations on Wafer-Level Testing for Accelerometers by Harmonic Response Measurements   St. Michael, S. Hering M. Katzschmann MEMUNITY-Workshop 'Testing MEMS at Wafer-Level', 01.03.2006, Halle