1710 Ergebnisse
Referenz
  171. Testschaltung für MEMS-Inertialsensoren-Auswerte-ASIC  
Roman Paris, Peter Kornetzky Jenny Klaus 28. GMM/GI/ITG Workshop – Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen, TuZ 2016, 06.03.2016 - 08.03.2016, Siegen, Germany  
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  172. Testmöglichkeiten auf Waferebene am IMMS  
M. Meister, 49. Mikroelektronik-Seminar, 05.05.2010, Erfurt  
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  173. Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckströmen  
D. Kirsten, A. Rolapp Dr. D. Nuernbergk 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung - ZuE (Zuverlässigkeit und Entwurf) 2010, 13.09.-15.09.2010, Wildbad Kreuth  
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  174. Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckströmen  
D. Kirsten, A. Rolapp Dr. D. Nuernbergk 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung - ZuE (Zuverlässigkeit und Entwurf) 2010, 13.09.-15.09.2010, Wildbad Kreuth  
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  175. Testmethodik für integrierte optoelektronische Schaltungen  
K. Förster, Clustermeeting OptoNet e.V., 2.11.2006, Ilmenau  
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  176. Testing symmetrical 2.4 GHz ZigBee Transceivers using unsymmetrical RF Measurement Equipment  
B. Bieske, A. Rolapp 9th International Multi-Conference on Systems, Signals and Devices (SSD), 2012, Chemnitz, 20.03.2012-23.3.2012  
Referenz
  177. Testing symmetrical 2.4 GHz ZigBee Transceivers using unsymmetrical RF Measurement Equipment  
B. Bieske, A. Rolapp 9th International Multi-Conference on Systems, Signals and Devices (SSD), 2012, Digital Object Identifier: 10.1109/SSD.2012.6197944, http://ieeexplore.ieee.org, IEEE Xplore Digital Library, E-ISBN 978-1-4673-1589-0  
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  178. Testing of Ultra-sensitive materials for nanoelectromechanical systems - USENEMS  
R. Grieseler, J. Klaus M. Stubenrauch K. Tonisch S. Michael J. Pezoldt P. Schaaf Lanzarote, Canary Islands, Spain: ECI Conference on Nanomechanical Testing in Materials Research and Development. (invited). 9.10.2011  
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  179. Testing of mechanical properties of AlGaN thin films by Eigenmode detection on Microeletromechanical Systems (MEMS)  
R. Grieseler, K. Tonisch J. Klaus M. Stubenrauch S. Michael J. Pezoldt P. Schaaf Int. Conference on Metallurgical Coating and Thin Films, ICMCTF, San Diego, USA, 23.04.2012-27.04.2012  
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  180. Testing Electrostatic Energy Harvesters: A New Topology for Accurate Characterization  
Björn Bieske, Gerrit Kropp Alexander Rolapp 2017 14th International Multi-Conference on Systems, Signals & Devices (SSD), Marrakech, Morocco, 28-31 March 2017, pp. 331-336. DOI: http://doi.org/10.1109/SSD.2017.8166930  
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