1781. Using BISC to improve integration level and yield of ISM-band receiver ICs   P. Teichmann, DATE 2007 Design ,'Automation and Test in Europe', 16.- 20. April 2007, Nizza (Italien)  

  1782. Navigation, Lokalisierung und Identifikationtrends von GPS, GSM, RFID und Sensorik zur Schaffung neuer Wertschöpfung   W. Sinn, Workshop: Identifikationstechnologien & Sensorik - Stand und Anwendungen, März 2007, Dresden  

  1783. DfM/DfY - Design for Manufacturability und Design for Yield Tutorial   R. Sommer, 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung, Tutorial auf der 'Zuverlässigkeit und Entwurf 2007', März 2007, München  

  1784. Symbolische Approximationsverfahren zur automatischen Modellgenerierung linearer und nichtlinearer Systeme   R. Sommer, ASIM/GI-Fachgruppen-Treffen 2007, 26.-27. Februar 2007, Bremen  

  1785. Parameteridentifikation von MEMS auf Wafer-Level mittels dynamischer Messungen   S. Michael, R. Paris S. Hering 6. ITG/GI/GMM-Workshop Multi-Nature Systems: Entwicklung von Systemen mit elektronischen und nichtelektronischen Komponenten, Februar 2007, Erfurt  

  1786. Neue Programmiersprachen für Test und Verifikation in Mixed-Design   E. Ulicna, 6. ITG/GI/GMM-Workshop Multi-Nature Systems: Entwicklung von Systemen mit elektronischen und nichtelektronischen Komponenten, Februar 2007, Erfurt  

  1787. Symbolische Analyse und Reduktion Multi-Physikalischer Systeme   J. Broz, Th. Halfmann R. Sommer 6. ITG/GI/GMM-Workshop Multi-Nature Systems: Entwicklung von Systemen mit elektronischen und nichtelektronischen Komponenten, Februar 2007, Erfurt  

  1788. Symbolische Approximationsverfahren zur automatischen Modellgenerierung linearer und nichtlinearer Systeme   R. Sommer, 6. ITG/GI/GMM-Workshop Multi-Nature Systems: Entwicklung von Systemen mit elektronischen und nichtelektronischen Komponenten, Februar 2007, Erfurt  

  1790. Erfolgskritisches Wissen bewerten und entwickeln - Praxisbericht aus dem Forschungsalltag   W. Sinn, 8.InfoPool. Aller Anfang ist leichter als man denkt - Wissensmanagement einführen, Veranstaltung Fraunhofer Gesellschaft, Berlin, 05.12.2006