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Referenz
1751.
Charakterisierung von HF-Zellen verschiedener Technologien unter Nutzung modularer PXI-Testsysteme
Referenz
1752.
Charakterisierung und Test von elektrostatischen Energieharvestern – Eine neue Schaltungstopologie für exaktere Messungen
Referenz
1753.
Characterizing Dynamics of MEMS Devices on Wafer Level Using Optical Measurement Techniques
Referenz
1755.
Challenges of Building AI-Based Virtual Temperature Sensors for Nanopositioning Systems (NPS)