1731. Bausteine intelligenter Sensorsysteme   Ch. Lang, Electronic - Embedded Systeme, Sonderdruck, November 2002  

  1733. Basic Design Challenges for Logical Gates Using Non-Standard Technologies or Circuit Concept Approaches   A. Amar, W. Glauert 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung 'Zuverlässigkeit und Entwurf', Stuttgart, 21.-23.09.2009  

  1734. BASe-Kit - Ein mobiles Messsystem für die Gebäudeautomation, BASe-Kit - A mobile measurement system for building automation   S. Engelhardt, E. Chervakova W. Kattanek T. Rossbach Dr. A. Schreiber M. Götze SENSOR+TEST 2010, 18.-20.05.2010, 17. Internationale Fachmesse für Sensorik, Mess- und Prüftechnik  

  1736. Automatisiertes Testen mikroelektronischer Schaltungen – Fuzzing findet Bugs in Hardware   Henning Siemen, Jonas Lienke Georg Gläser Elektronik, 21.2023, 18. Oktober 2023, Seite 64 - 67, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2321D  

  1737. Automatische nichtlineare Verhaltensmodellgenerierung mit sequentieller Gleichungsstruktur   D. Platte, R. Sommer J. Broz A. Dreyer T. Halfmann E. Barke in Proc. ANALOG 2006, Dresden, Sept. 2006  

  1738. Automatische Ausführung einer standardisierten, ATML basierten Testspezifikation mit paralleler Simulation   I. Gryl, D. Glaser P. Lu Z. Kiss Passau: 23. GI/GMM/ITG Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2011)  

  1739. Automatic Nonlinear Behavioral Model Generation Using Symbolic Circuit Analysis, in Design of Analog Circuits through Symbolic Analysis   Ralf Sommer, Eckhard Hennig Gregor Nitsche J. Broz P. Schwarz in Design of Analog Circuits through Symbolic Analysis, M. Fakhfakh, E. Tlelo-Cuautle, and F. V. Fernández, Eds., Bentham Science Publishers, 2012, ch. 12, Pages 305-341, http://www.eurekaselect.com/101990/volume/1  

  1740. Automatic Nonlinear Behavioral Model Generation using Sequential Equation Structures   D. Platte, R. Sommer J. Broz A. Dreyer T. Halfmann E. Barke Proc. 9th International Workshop on Symbolic Methods and Applications to Circuit Design (SMACD'06), Florenz, Italien, Okt. 2006