2146 Ergebnisse
Veranstaltung
  1711. CIM 2025  
Komplexe Konstruktion aus Glas-, Metall-, Elektronik- und Pneumatikkomponenten auf einem Granitblock. 22nd International Metrology Congress  
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  1712. Christian Paintz, Melexis  
„Insbesondere bei der Auswertung von Messdaten hat das IMMS eindrucksvoll demonstriert, dass ein lernender Algorithmus der manuellen Auswertung ebenbürtig ist – bei gleichzeitig großer Zeitersparnis. Auch die Methoden zur Schaltungs- und Layoutanalyse verfolgen wir weiter, da wir auch hier ein großes Forschungs- und Anwendungspotential sehen.“  
Veranstaltung
  1713. Chipdesign Germany  
Eine Veranstaltung der Designinitiative Mikroelektronik  
Referenz
  1714. Charakterisierung, Optimierung und PEEC-Modellierung für einen Signalübertragungsabschnitt in Multi-Chip-Modulen  
H. Töpfer, Workshop Entwurf von integrierten Analog-/Mixed-Signal-/HF-Schaltungen, 10.05.2007, Dresden  
Referenz
  1715. Charakterisierung von HF-Zellen verschiedener Technologien unter Nutzung modularer PXI-Testsysteme  
B. Bieske, K. Gille 22nd ITG/GI/GMM Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  
Referenz
  1716. Charakterisierung und Test von elektrostatischen Energieharvestern – Eine neue Schaltungstopologie für exaktere Messungen  
Björn Bieske, Gerrit Kropp 29. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2017), 5.- 7. März 2017, Lübeck  
Referenz
  1717. Characterizing Dynamics of MEMS Devices on Wafer Level Using Optical Measurement Techniques  
Sebastian Giessmann, Steffen Michael Eric Lawrence Dr. Heinrich Steger Commercial Micro Manufacturing International Magazine (CMM Magazine), 08-2023, VOL 16 NO. 3, pp. 30-39  
Veranstaltung
  1718. CHANTS 2017  
12th Workshop on Challenged Networks, Co-located with ACM MobiCom 2017  
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  1719. Challenges of Building AI-Based Virtual Temperature Sensors for Nanopositioning Systems (NPS)  
Amin Suaad, Silvia Krug Tino Hutschenreuther IEEE AI4IM 2026, IEEE Symposium on Artificial Intelligence for Instrumentation and Measurement, Mai 21-23, 2026, Amalfi, Italy  
Referenz
  1720. Challenges in Analog/Mixed-Signal EDA  
R. Sommer, MunEDA User Group Meeting Europe 2007, 25.-26. September 2007, München  
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