2115 Ergebnisse
Referenz
  1651. One-step autozeroing two-stage amplifier with floating-gate memory cells  
D. Kirsten, V. Schulze D. Nuernbergk DATE 2009, 20.-24. April 2009, Nizza, France  
Referenz
  1652. A Novel Low-Voltage Bandgap Reference Topology  
M. Isikhan, 21. Mikroelektronik-Seminar, 16.04.2009, Erfurt  
Referenz
  1653. Quantitative analysis of system initialization in embedded Linux systems  
A. Puschmann, Embedded Linux Conference 2009, 6. April 2009, San Francisco, CA, USA  
Referenz
  1654. Entwurf von SC-Schaltungen - Grundlagen und grundlegende Probleme  
B. Dimov, 20. Mikroelektronik-Seminar, 02.04.2009, Erfurt  
Referenz
  1655. PXI - basierte Testplattformen für die Halbleiterindustrie  
K. Förster, 9. ATE - Technologietag, 1. April 2009, Radolfzell  
Referenz
  1656. EEPROM-Speicherzelle und ihr Auswahltransistor  
St. Richter, D. Nuernbergk S. Richter D. Kirsten Patentnr. 10 2004 011 858  
Referenz
  1657. In-Network Detection of Anomaly Regions in Sensor Networks with Obstacles  
C. Franke, M. Karnstedt D. Klan M. Gertz K.-U. Sattler E. Chervakova Computer Science - Research and Development, Special issue 'BTW 2009 Best Papers”, Volume 24, Number 3, ISSN 1865-2034, Springer, 2009  
Referenz
  1658. In-Network Detection of Anomaly Regions in Sensor Networks with Obstacles  
C. Franke, M. Karnstedt D. Klan M. Gertz K.-U. Sattler W. Kattanek 13. GI-Fachtagung Datenbanksysteme für Business, Technologie und Web, 2.- 6.März 2009, Münster  
Referenz
  1659. Drahtlose Sensor-Aktor-Netzwerke  
T. Rossbach, E. Chervakova Bericht zum Projekt CBS - Costumer Bautronic Systems, Arbeitsgruppe 3, Nutzerintegrierte operative Gebäudesteuerung FKZ BMBF-03WKBD3C, CeBit 2009, 2. März 2009, Hannover  
Referenz
  1660. Parametric Measurement Unit und Pinelektronik für ein modulares Mixed Signal Testsystem  
A. Rolapp, R. Paris 21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 86, 15. - 17. Februar 2009, Bremen  
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