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Referenz
1383.
Messumgebung für Lebensdauertests basierend auf dem Konzept der universellen Test-Chips (UTC)
Referenz
1384.
Messumgebung zur dynamischen Charakterisierung des Leistungsverbrauchs von Ultra-Low-Power Schaltungen
Referenz
1388.
Messungen an elektrorheologischen Flüssigkeiten für die Dimensionierung von fluidischen Aktorarrays