Wissenschaftliche Publikationen
Hier finden Sie alle Veröffentlichungen des IMMS seit 1997: begutachtete Konferenz-Paper / Journal-Beiträge, Fachartikel in Zeitschriften, Vorträge und Posterpräsentationen.
1226 Ergebnisse
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The angle dependent ΔE effect in TiN/AlN/Ni micro cantilevers
Bernd Hähnlein1, Maria Kellner2, Maximilian Krey3, Alireza Nikpourian2, Jörg Pezoldt4, Steffen Michael2, Hannes Toepfer2,3, Stefan Krischok1, Katja Tonisch1in Sensors and Actuators A: Physical, vol. 345, pp. 113784, 2022, DOI: doi.org/10.1016/j.sna.2022.1137841Technische Universität Ilmenau, Institut für Mikro- und Nanotechnologien (IMN) MacroNano®, Fachgebiet Technische Physik 1, 98684 Ilmenau, P.O. Box 10 05 65, Germany, 2IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany, 3Technische Universität Ilmenau, Institut für Mikro- und Nanotechnologien (IMN) MacroNano®, Fachgebiet Theoretische Elektrotechnik, 98684 Ilmenau, P.O. Box 10 05 66, Germany, 4Technische Universität Ilmenau, Institut für Mikro- und Nanotechnologien (IMN) MacroNano®, Fachgebiet Nanotechnologie, 98684 Ilmenau, P.O. Box 10 05 65, Germany -
Testsystem für die Charakerisierung analoger und digitaler Strukturen – Mixed-Signal-Analyse wird mobiltauglich
Tom Reinhold1Elektronik, 24.2024, , 24, Seite 70-73, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de1IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany -
Teststrategien für HF-ICs vom Labor zur Produktion
B. Bieske1. P. Witzenhausen1.18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.20061IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Vortrag -
Testschaltung für MEMS-Inertialsensoren-Auswerte-ASIC
Roman Paris1, Peter Kornetzky1, Jenny Klaus128. GMM/GI/ITG Workshop – Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen (TuZ 2016), , Siegen, Germany1IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany -
Testmöglichkeiten auf Waferebene am IMMS
M. Meister1.49. Mikroelektronik-Seminar, 05.05.2010, Erfurt1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Vortrag -
Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckströmen
D. Kirsten1. A. Rolapp1. Dr. D. Nuernbergk1.4. GMM/GI/ITG-Fachtagung - ZuE (Zuverlässigkeit und Entwurf) 2010, 13.09.-15.09.2010, Wildbad Kreuth1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Fachartikel -
Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckströmen
D. Kirsten1. A. Rolapp1. Dr. D. Nuernbergk1.4. GMM/GI/ITG-Fachtagung - ZuE (Zuverlässigkeit und Entwurf) 2010, 13.09.-15.09.2010, Wildbad Kreuth1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Vortrag -
Testmethodik für integrierte optoelektronische Schaltungen
K. Förster1.Clustermeeting OptoNet e.V., 2.11.2006, Ilmenau1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Vortrag -
Testing symmetrical 2.4 GHz ZigBee Transceivers using unsymmetrical RF Measurement Equipment
B. Bieske1. A. Rolapp1.9th International Multi-Conference on Systems, Signals and Devices (SSD), 2012, Chemnitz, 20.03.2012-23.3.20121IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Vortrag -
Testing symmetrical 2.4 GHz ZigBee Transceivers using unsymmetrical RF Measurement Equipment
B. Bieske1. A. Rolapp1.9th International Multi-Conference on Systems, Signals and Devices (SSD), 2012, Digital Object Identifier: 10.1109/SSD.2012.6197944, ieeexplore.ieee.org, IEEE Xplore Digital Library, E-ISBN 978-1-4673-1589-01IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Fachartikel