Zum Hauptinhalt springen

Silicon Science Award für die Abschlussarbeit „Entwicklung und Charakterisierung einer Schaltungstopologie zur Erzeugung kurzer LED-Lichtpulse“

Auszeichnung mit dem Silicon Science Award, Im Wettbewerb 2025 für herrausragende Bachelor-, Master- oder Diplomarbeiten sowie Dissertationen, CiS e.V.
Datum:
Auszeichnung:
Silicon Science Award für die Abschlussarbeit „Entwicklung und Charakterisierung einer Schaltungstopologie zur Erzeugung kurzer LED-Lichtpulse“
Autoren und Autorinnen:
Vincent Haude.
Veranstaltung:

WaferBond 2025, Conference on Wafer Bonding for Microsystems, 3D- and Wafer Level Integration, Chemnitz, 3.12.2025

 
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH).

Zugehörige Inhalte

Pressemitteilung,

Silicon Science Award für schnelle LEDs zur In-vitro-Diagnostik

Thüringer Nachwuchsforscher für Entwicklung zu hochdynamischem LED-Betrieb für zeitaufgelöste Fluoreszenzmessungen ausgezeichnet


Das könnte Sie auch interessieren

Forschungsfeld

Intelligente vernetzte Mess- und Testsysteme

Integrierte Sensor-ICs sind das Herz von Sensor- und Messsystemen wie Funksensoren, stationäre und Handheld-Diagnosegeräte. Wir forschen an Lösungen für immer leistungsfähigere Sensoren mit mehr Eigenintelligenz und Aufgabenverteilung im Sensornetz.

Kernthema

Modulare und mobile Testsysteme

Testmöglichkeiten sind fester Bestandteil aller Applikationsentwicklungen. Wir forschen an modularen Testsystemen, die durch optimierte funktionale Testeinheiten flexibel und schnell an neue Herausforderungen angepasst werden können.

Leitanwendung

Sensorsysteme für die In-vitro-Diagnostik

Hier entwickeln wir Sensor­systeme für die In-vitro-Diagnostik, die ein individuelles, dezentrales Gesundheitsmonitoring für alle mit elektronischen Schnelltests ermöglichen.

Dienstleistung

Test und Charakterisierung

Wir testen, charakterisieren und qualifizieren Ihre Schaltkreise, Sensoren und Systeme. Auf Basis unseres exzellenten Messgerätepools entwickeln wir eine individuell angepasste Testumgebung für Messungen an Wafern und Einzelbauelementen.

Kontakt

Kontakt

Dipl.-Ing. Michael Meister

Leiter Industrielle Elektronik und Messtechnik

michael.meister(at)imms.de+49 (0) 3677 874 93 20

Michael Meister ist Ihr Ansprechpartner für Testdienstleistungen, Testmethodikentwicklung und Langzeituntersuchungen. Er beantwortet Ihre Fragen zum Kernthema Modulare und mobile Testsysteme, die wir in unserem Forschungsfeld Intelligente vernetzte Mess- und Testsysteme entwickeln, sowie zu Test und Charakterisierung von Integrierten Sensorsystemen. Er ist verantwortlich für den Messgerätepool des IMMS und unterstützt Sie bei der Validierung von ASIC- und MEMS-Entwicklungen.

Zurück