TuZ 2023
Messumgebung für Lebensdauertests basierend auf dem Konzept der universellen Test-Chips (UTC)
Björn Bieske [1], Pierre Wenke [2], Martin Jäger [3], Ingo Gryl [1], Xiao Liu [2], Jörg Steinecke [2]
[1] IMMS Institut für Mikroelektronik- und MechatronikSysteme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH)
[2] X-FAB Semiconductor Foundries GmbH
[3] X-FAB Global Services GmbH
Abstract:
Es wird eine weiterentwickelte Messumgebung vorgestellt, die speziell für Lebensdaueruntersuchungen ausgelegt ist. Als Grundlage dient das Konzept eines universellen Testchips, der bei einheitlichen Anschlüssen verschiedenste Funktionsblöcke beinhalten kann. Die bidirektionale Ansteuerung der Testobjekte erfolgt über ein serielles Interface. Der Testaufbau ist modular und der Anzahl der Testobjekte entsprechend skalierbar. So werden Langzeituntersuchungen ermöglicht, die als digitale und analoge Messungen parallel durchgeführt werden können. Damit können gezieltere individuelle Stress-Tests bei hohen Temperaturen appliziert werden, um so eine verbesserte Analyse von Ausfallursachen durchzuführen. Die Entwicklung der Messumgebung und ausgewählte Applikationen werden vorgestellt.
Das könnte Sie auch interessieren
Forschungsfeld
Integrierte Sensorsysteme
Hier erforschen wir in Halbleitertechnologien gefertigte miniaturisierte Systeme aus mikroelektronischen Komponenten für sensorische Anwendungen sowie Methoden, um diese hochkomplexen Systeme effizient und sicher zu entwerfen.
Forschungsfeld
Intelligente vernetzte Mess- und Testsysteme
Integrierte Sensor-ICs sind das Herz von Sensor- und Messsystemen wie Funksensoren, stationäre und Handheld-Diagnosegeräte. Wir forschen an Lösungen für immer leistungsfähigere Sensoren mit mehr Eigenintelligenz und Aufgabenverteilung im Sensornetz.
Kernthema
Modulare und mobile Testsysteme
Testmöglichkeiten sind fester Bestandteil aller Applikationsentwicklungen. Wir forschen an modularen Testsystemen, die durch optimierte funktionale Testeinheiten flexibel und schnell an neue Herausforderungen angepasst werden können.
Dienstleistung
Test und Charakterisierung
Wir testen, charakterisieren und qualifizieren Ihre Schaltkreise, Sensoren und Systeme. Auf Basis unseres exzellenten Messgerätepools entwickeln wir eine individuell angepasste Testumgebung für Messungen an Wafern und Einzelbauelementen.
Kontakt
Kontakt
Dipl.-Hdl. Dipl.-Des. Beate Hövelmans
Leiterin Unternehmenskommunikation
beate.hoevelmans(at)imms.de+49 (0) 3677 874 93 13
Beate Hövelmans ist verantwortlich für die Text- und Bildredaktion dieser Webseite, für die Social-Media-Präsenz des IMMS auf LinkedIn und YouTube, die Jahresberichte, für die Pressearbeit mit Regional- und Fachmedien und weitere Kommunikationsformate des IMMS. Sie stellt Ihnen Texte, Bilder und Videomaterial für Ihre Berichterstattung zum IMMS bereit, vermittelt Kontakte für Interviews und ist Ansprechpartnerin für Veranstaltungen.