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Referenz
  611. Testerinstrumente auf FPGA-Basis  
M. Sprogies, G. Kropp I. Gryl Passau: 23. GI/GMM/ITG Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2011)  
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  612. Von eingebetteten Systemen zur intelligenten Umgebung  
W. Sinn, Dresden: 6. Silicon Saxony Day, 09.03.2011  
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  613. Strategies for Initial Sizing and Operating Point Analysis of Analog Circuits  
V. Boos, J. Nowak S. Henker S. Höppner Grenoble, France: DATE 2011, Design, Automation & Test in Europe. 14.-18.03.2011  
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  614. Design of a High-Speed Photodetector IC for Blu-ray Disc R/W Systems  
R. Sommer, D. Krauße E. Schäfer E. Hennig Grenoble, France: DATE 2011, Design, Automation & Test in Europe. 14.-18.03.2011  
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  615. Strategies for Initial Sizing and Operating Point Analysis of Analog Circuits  
V. Boos, J. Nowak S. Henker S. Höppner M. Sylvester H. Grimm D. Krauße R. Sommer Grenoble, France: DATE 2011, Design, Automation & Test in Europe. ISBN: 978-1-61284-208-0  
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  616. Technologische Aspekte der messtechnisch gestützten Beratung  
T. Hutschenreuther, H. Töpfer Gera: Fachinformationsveranstaltung des TMWAT - Energieeffizienz durch Prozessoptimierung. 09.03.2011  
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  617. Technologische Aspekte der messtechnisch gestützten Beratung  
T. Hutschenreuther, H. Töpfer Erfurt: Fachinformationsveranstaltung des TMWAT - Energieeffizienz durch Prozessoptimierung. 21.03.2011  
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  619. Technologische Aspekte der messtechnisch gestützten Beratung  
T. Hutschenreuther, H. Töpfer Suhl: Fachinformationsveranstaltung des TMWAT - Energieeffizienz durch Prozessoptimierung. 24.3.2011  
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  620. Bestimmung mechanischer Eigenschaften neuer Hochleistungsmaterialien  
R. Grieseler, K. Tonisch B. Leistritz M. Stubenrauch S. Michael J. Petzoldt P. Schaaf Jena: Thüringer Werkstofftag 2011 an der Friedrich-Schiller-Universität Jena  
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