1711 Ergebnisse
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  521. New Trends in the Specification of Automotive Embedded Systems  
W.Kattanek, 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, September 1998, Ilmenau  
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  522. New methods for RF-characterisation of PDIC-photo diodes for DVD applications  
M. Meister, B. Bieske ISCE 2006 - The Tenth IEEE International Symposium on Consumer Electronics, 29.06.-01.07.2006, St. Petersburg (Russland), ISBN: 1-4244-0216-6  
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  523. New methods for RF-characterisation of PDIC-photo diodes for DVD applications  
M. Meister, B. Bieske ISCE 2006 - The Tenth IEEE International Symposium on Consumer Electronics, 29.06.-01.07.2006, St. Petersburg (Russland). ISBN: 1-4244-0216-6  
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  524. NeuroSensEar: Neuromorphic acoustic sensing for the high-performance hearing aids of tomorrow  
Claudia Lenk, Yuxuang He, Alirheza Hosseini, Fang Zheng Aayushmi Mukherjee, Jakob Abeßer, Lina Jaurigue Kathy Lüdge, Alexander Raake, Tzvetan Ivanov, Iko Pieper Paul Fritzsche, Jan Küller, Daniel Beer Stefan Schöneich, Manuela Nowotny Sebastian Uziel, Tino Hutschenreuther Martin Ziegler DAGA 2025, 51st Annual Meeting on Acoustics, DOI: https://doi.org/10.71568/dasdaga2025.523, March 17-20, 2025, Copenhagen, Denmark  
Pressemitteilungen
  525. Neuer Themenbereichsleiter für Mechatronik  
Dr.-Ing. Ludwig Herzog leitet seit dem 01.12.2022 das Mechatronik-Team des IMMS  
Pressemitteilungen
  526. Neuer Leiter für Industrielle Elektronik und Messtechnik  
Übergabe von Dr. Klaus Förster an Michael Meister zum 1. Juni 2018  
Pressemitteilungen
  527. Neuer kaufmännischer Geschäftsführer am IMMS  
Übergabe von Hans-Joachim Kelm an Martin Eberhardt zum 1. Februar 2019  
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  528. Neuentwicklung und Optimierung eines Treiber-ASIC für Energie-und ressourceneffiziente Ansteuerung von OLED-Modulen  
Georg Gläser, Gerrit Kropp Michael Meister LED- und OLED Praxisforum, 02.06.2014 - 03.06.2014, Würzburg, Vortrag  
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  529. Neuentwicklung und Optimierung eines Treiber-ASIC für Energie- und ressourceneffiziente Ansteuerung von OLED-Modulen  
Gerrit Kropp, Michael Meister in Elektronik Praxis, September 2014, Seite 30 – 32  
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  530. Neue Teststrukturen zur Messung von Matching und Alterung an MOS-Transistoren  
M. Meister, D. Nürnbergk Zuverlässigkeit und Entwurf (ZuE 2009), 21. - 23.09.2009, Stuttgart  
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