381. Automatisiertes Testen mikroelektronischer Schaltungen – Fuzzing findet Bugs in Hardware   Henning Siemen, Jonas Lienke Georg Gläser Elektronik, 21.2023, 18. Oktober 2023, Seite 64 - 67, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2321D  

  383. BASe-Kit - Ein mobiles Messsystem für die Gebäudeautomation, BASe-Kit - A mobile measurement system for building automation   S. Engelhardt, E. Chervakova W. Kattanek T. Rossbach Dr. A. Schreiber M. Götze SENSOR+TEST 2010, 18.-20.05.2010, 17. Internationale Fachmesse für Sensorik, Mess- und Prüftechnik  

  384. Basic Design Challenges for Logical Gates Using Non-Standard Technologies or Circuit Concept Approaches   A. Amar, W. Glauert 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung 'Zuverlässigkeit und Entwurf', Stuttgart, 21.-23.09.2009  

  386. Bausteine intelligenter Sensorsysteme   Ch. Lang, Electronic - Embedded Systeme, Sonderdruck, November 2002  

  387. Beamforming in compact antenna arrays for robust satellite navigation   S. Irteza, E. Schäfer M. Ibraheam B. Bieske R. Stephan M.A. Hein Antennas and Propagation in Wireless Communications (APWC), 2014 IEEE-APS Topical Conference on, Pages 528 – 531, SOI: http://dx.doi.org/10.1109/APWC.2014.6905569  

  388. Before It Hits the Chip: A Gentle Introduction to Mixed-Signal IC Verification   Martin Grabmann, ISSOM 25, International Summer School on Microelectronics, August 25-29, 2025, Leibniz-Universität Hannover, Hannover, Germany  

  390. Besonderheiten bei der Entwicklung von Präzisionsantrieben für erschwerte Einsatzbedingungen   F. Spiller, T. Gubi 44. IWK, TU Ilmenau, September 1999