K. Gastinger,
M. Kujawinska
U. Zeitner
C. Gorecki
Dr. Ch. Schäffel
11th Scientific Conference Optoelectronic and Electronic Sensors COE, 20.06-23.06.2010, Polen
Sebastian Uziel,
in elektroniknet.de, 11. November, S. 37 - 40, https://www.elektroniknet.de/automation/industrie-40-iot/anomalien-mit-edge-ki-detektieren.228572.html und in Markt&Technik, Trend Guide 2025, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/MUT?catalogName=MUTSH2507D