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  291. D4024A: CMOS image sensor with high dynamic-range for time-resolved fluorescence with Europium  
D4024A: CMOS image sensor with high dynamic-range for time-resolved fluorescence with Europium CMOS image sensor with high dynamic-range for time-resolved fluorescence with Europium www.imms.de/d4024a Performances of the imager Dye decay time > 1 µs Time resolution 20 ns Frame rate 24 fps Pixel fill factor 59 % Photo diode dark current 200 e–/s Charge conversion gain 27 µV/e– Full-well capacity 53 ke– D4024A DTEST1 DTEST2 DTEST3 ATEST1 ATEST2 SYNC1 SYNC2 I2C TRTXL TRTXR TRTD VRES VDDH VDDA Row Driver Heater Lock-In Pixel Array (256x128) VSSD Column ADC High Speed…  
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  292. Jahresbericht 2020, Überblick zu Fachartikeln  
Jahresbericht 2020, Überblick zu Fachartikeln  
Referenz
  293. Elektrochemische Sensoranordnung und Verwendung eines fotoelektrischen Sensors zur Bestimmung von Ladungsträgern in einem Medium  
Alexander Hofmann, DE 10 2020 123 949 A1  
Über uns
  294. Netzwerke  
Netzwerke: Wir binden möglichst regional verfügbare Technologien in die Forschungsarbeiten ein und tragen so zur Vernetzung von Unternehmen bei, mit der das Innovationspotenzial von kleinen und mittleren Unternehmen ausgeschöpft werden soll.  
Referenz
  295. VE-VIDES – AP2, Design, Architektur und Modellierung, Vertrauenswürdig?  
Georg Gläser, Digitale Fachkonferenz „Vertrauenswürdige Elektronik 2022“, 9. - 10. März 2022, online  
Referenz
  296. VE-ARiS – „Alberich“ – Machine-Learning-basierte Vorhersage der Kopierbarkeit von ASICs  
Florian Kögler, Digitale Fachkonferenz „Vertrauenswürdige Elektronik 2022“, 9. - 10. März 2022, online  
Referenz
  297. Echtzeitanalyse und Prognose des Wasserhaushalts im Weinbau  
Hannes Mollenhauer, Martin Schieck Silvia Krug Valentin Knitsch IM+io, Fachmagazin, März 2022, Heft 01, ISSN 1616-1017, Seite 32 - 35  
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  298. Messumgebung zur mixed-signal Echtzeit-Parametererfassung bei Lebensdauertests  
Michael Meister, Björn Bieske Ingo Gryl Dagmar Kirsten 34. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2022), 27. Februar - 1. März 2022, Bremerhaven, Germany  
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  299. Intelligente Layoutverarbeitung: KI für ASIC- und PCB-Layouts  
Georg Gläser, Julian Kuners Elektronik, 03.2022, 9. Februar 2022, Seite 42 - 45, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2203D  
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  300. Machine-Learning-basierte Messdatenanalyse für ASICs. Testen auf der Überholspur  
Tom Reinhold, Georg Gläser Elektronik, 01/02.2022, 26. Januar 2022, Seite 46 - 48, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2201D  
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