2115 Ergebnisse
Referenz
  241. Systematische Evaluation des Energieverbrauches von Funksensorknoten während der Entwicklungsphase als Werkzeug für energieeffizientes System-Design  
Alexander Jurin, Silvia Krug Sebastian Uziel 12. GMM/DVS-Fachtagung, Elektronische Baugruppen und Leiterplatten (EBL 2024), 5. - 6. März 2024, Fellbach, Germany  
Veranstaltung
  242. EBL 2024  
12. GMM/ DVS-Fachtagung: Elektronische Baugruppen und Leiterplatten – Nachhaltigkeit und Energieeffizienz mit smarter Elektronik  
Referenz
  243. Evaluierung und Test von GNSS-Empfängern mit realen und synthetischen Satellitensignalen  
Björn Bieske, Uwe Stehr Matthias Hein Syed N. Hasnain 36. ITG / GMM / GI -Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2024), 25. - 27. Februar 2024, Darmstadt, Germany  
Veranstaltung
  244. TuZ 2024  
36. ITG / GMM / GI -Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen  
Referenz
  245. Pikosekundenschnelle Lichtmessungen für die Quantenforschung – Einzelphotonen präzise messen  
Jakob Hampel, Elektronik, 04.2024, 20. Februar 2024, Seite 60 - 63, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2404D  
Über uns
  246. Korruptionsprävention  
Anti-Bestechung und Korruption Konzept, Geschäftsmann ablehnen und erhalten keine Geld-Banknote in Umschlag Angebot von Geschäftsleuten zu akzeptieren Vertrag der Investition Deal. Korruptionsprävention: Hier informieren wir Sie über die Umsetzung der Korruptionsprävention am IMMS und die Kontaktmöglichkeiten bei Fragen, Problemen und Hinweisen zum Thema Korruptionsprävention.  
Pressemitteilungen
  247. Energieeffizienz für serielle Inter-Chip-Kommunikation mit kommerziellen drahtlosen Sensoren  
iENA-Silbermedaille für Latch-basierten aktiven Ultra-Low-Power-Pull-Up-Emulator  
Veranstaltung
  248. Digitalisierung im Mittelstand 2023  
Thementage Digitalisierung im Mittelstand 2023 | Teil 4: Sensorik/ Smarte Sensorsysteme  
Referenz
  249. Validierung KI-basierter Simulationsmethoden im Chip-Entwurf, Testbench in Hardware  
Tom Reinhold, Elektronik, 25.2023, 29. November 2023, Seite 60 - 64, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2325D  
Referenz
  250. Unconventional, lateral measurements with laser focus sensors for nanopositioning stages  
Davi Anders Brasil, Michael Katzschmann Steffen Hesse Ludwig Herzog T. Fröhlich T. Kissinger euspen Special Interest Group Meeting, "Micro/Nano Manufacturing", 28. - 29. November 2023, Ilmenau, Germany  
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