231. Test opto-elektronischer Schaltungen unter Verwendung von PXI-Testsystemen   M. Meister, A. Rolapp I. Gryl 21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 81, 15. - 17. Februar 2009, Bremen  

  232. Test of differential 2.4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBee ICs: Limits and Challenges   B. Bieske, M. Lange S. Beyer Semiconductor Conference Dresden 2008, 23.-24. April 2008, Dresden, Germany  

  233. Test of differential 2.4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBee ICs: Limits and Challenges   B. Bieske, M. Lange S. Beyer Semiconductor Conference Dresden 2008, 23.-24. April 2008, Dresden, Germany  

  234. Test mit Zukunft - Smart PXI   M. Konrad, K. Förster Ilmenau: wiss. Kolloquium zum 15-jährigen Bestehen des IMMS. 05.05.2011  

  235. Test differentieller Parameter von HF-Komponenten im GHz-Bereich   B. Bieske, 21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 35, 15. - 17. Februar 2009, Bremen  

  236. Test der Entwurfsmethode für inkrementelle Messsysteme anhand einer Beispielapplikation   J. Zellmann, IMMS F&E Report, 19.10.1999, Ilmenau  

  238. Terminalsystem 2.0: Neue, flexible Möglichkeiten der Kombination von PXI-Testerressourcen bis 1 GHz   Björn Bieske, Ludwig Kircher Alexander Rolapp 33. GI/GMM/ITG-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2021), 22. Februar 2021, online  

  239. Temporal Decoupling with Error-Bounded Predictive Quantum Control   Georg Gläser, Gregor Nitsche Eckhard Hennig Languages, Design Methods and Tools for Electronic System Design, Selected Contributions from FDL 2015, ISBN 978-3-319-31722-9, pages 125-150  

  240. Temporal Decoupling with Error-Bounded Predictive Quantum Control   Georg Gläser, Gregor Nitsche Eckhard Hennig Specification and Design Languages (FDL), 2015 Forum on, 14-16 Sept. 2015, Barcelona, Spain, (Best-Paper-Award), DOI: http://dx.doi.org/10.1109/FDL.2015.7306358, Print ISBN - IEEE Xplore 978-1-4673-7735-5