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Referenz
191.
Vertikale Nanopositionierung mit bis zu 25 mm Verfahrweg – Hubmodule für die hochgenaue Positionierung im Raum
Referenz
192.
Robust Adaptive Tracking Control of a 3D Vertical Motion System for Nanometer Precision Applications
Referenz
197.
Characterizing Dynamics of MEMS Devices on Wafer Level Using Optical Measurement Techniques
Pressemitteilungen
198.
Zuverlässige und schnellere Chip-Designs durch invasive und parametrische Simulationsmethoden