2146 Ergebnisse
Referenz
  1901. Terminalsystem 2.0: Neue, flexible Möglichkeiten der Kombination von PXI-Testerressourcen bis 1 GHz  
Björn Bieske, Ludwig Kircher Alexander Rolapp 33. GI/GMM/ITG-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2021), 22. Februar 2021, online  
Referenz
  1902. TESCA  
Der Antrieb für eine Terahertz-Kamera ermöglicht Sicherheits-Checks, bei denen Personen im Vorbeigehen auf versteckte Gegenstände untersucht werden.  
Referenz
  1903. Test der Entwurfsmethode für inkrementelle Messsysteme anhand einer Beispielapplikation  
J. Zellmann, IMMS F&E Report, 19.10.1999, Ilmenau  
Referenz
  1904. Test differentieller Parameter von HF-Komponenten im GHz-Bereich  
B. Bieske, 21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 35, 15. - 17. Februar 2009, Bremen  
Referenz
  1905. Test mit Zukunft - Smart PXI  
M. Konrad, K. Förster Ilmenau: wiss. Kolloquium zum 15-jährigen Bestehen des IMMS. 05.05.2011  
Referenz
  1906. Test of differential 2.4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBee ICs: Limits and Challenges  
B. Bieske, M. Lange S. Beyer Semiconductor Conference Dresden 2008, 23.-24. April 2008, Dresden, Germany  
Referenz
  1907. Test of differential 2.4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBee ICs: Limits and Challenges  
B. Bieske, M. Lange S. Beyer Semiconductor Conference Dresden 2008, 23.-24. April 2008, Dresden, Germany  
Referenz
  1908. Test opto-elektronischer Schaltungen unter Verwendung von PXI-Testsystemen  
M. Meister, A. Rolapp I. Gryl 21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 81, 15. - 17. Februar 2009, Bremen  
Dienstleistung
  1909. Test und Charakterisierung  
Dienstleistung Test und Charakterisierung: Wir testen, charakterisieren und qualifizieren Ihre Schaltkreise, Sensoren und Systeme. Auf Basis unseres exzellenten Messgerätepools entwickeln wir eine individuell angepasste Testumgebung für Messungen an Wafern und Einzelbauelementen.  
Referenz
  1910. Test und Charakterisierung von MEMS mittels dynamischer Messung am Beispiel von Membranstrukturen und Resonatoren  
St. Michael, 4. Silicon Saxony Day, 12.-13. Mai 2009, Dresden  
Suchergebnis 1901 bis 1910 von 2146