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  1901. Testing symmetrical 2.4 GHz ZigBee Transceivers using unsymmetrical RF Measurement Equipment  
B. Bieske, A. Rolapp 9th International Multi-Conference on Systems, Signals and Devices (SSD), 2012, Digital Object Identifier: 10.1109/SSD.2012.6197944, http://ieeexplore.ieee.org, IEEE Xplore Digital Library, E-ISBN 978-1-4673-1589-0  
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  1902. Testmethodik für integrierte optoelektronische Schaltungen  
K. Förster, Clustermeeting OptoNet e.V., 2.11.2006, Ilmenau  
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  1903. Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckströmen  
D. Kirsten, A. Rolapp Dr. D. Nuernbergk 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung - ZuE (Zuverlässigkeit und Entwurf) 2010, 13.09.-15.09.2010, Wildbad Kreuth  
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  1904. Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckströmen  
D. Kirsten, A. Rolapp Dr. D. Nuernbergk 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung - ZuE (Zuverlässigkeit und Entwurf) 2010, 13.09.-15.09.2010, Wildbad Kreuth  
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  1905. Testmöglichkeiten auf Waferebene am IMMS  
M. Meister, 49. Mikroelektronik-Seminar, 05.05.2010, Erfurt  
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  1906. Testschaltung für MEMS-Inertialsensoren-Auswerte-ASIC  
Roman Paris, Peter Kornetzky Jenny Klaus 28. GMM/GI/ITG Workshop – Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen, TuZ 2016, 06.03.2016 - 08.03.2016, Siegen, Germany  
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  1907. Teststrategien für HF-ICs vom Labor zur Produktion  
B. Bieske, P. Witzenhausen 18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.2006  
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  1908. Testsystem für die Charakerisierung analoger und digitaler Strukturen – Mixed-Signal-Analyse wird mobiltauglich  
Tom Reinhold, Elektronik, 24.2024, 26. November 2024, Seite 70 - 73, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2424D  
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  1909. Textbotschaften 25 Jahre IMMS  
Textbotschaften 25 Jahre IMMS: Hier finden Sie Texte, die uns unsere Partner anlässlich unseres 25-jährigen Bestehens geschickt haben. Auch dort gibt es viele Verweise auf konkrete Projekte und auf gemeinsame Produktentwicklungen. Herzlichen Dank dafür!  
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  1910. The angle dependent ΔE effect in TiN/AlN/Ni micro cantilevers  
Bernd Hähnlein, Maria Kellner Maximilian Krey Alireza Nikpourian Jörg Pezoldt Steffen Michael Hannes Töpfer Stefan Krischok Katja Tonisch Sensors and Actuators A: Physical, Volume 345, 2022, 113784, ISSN 0924-4247, DOI: https://doi.org/10.1016/j.sna.2022.113784  
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