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Veranstaltung

1681. Vertrauenswürdige Elektronik 2022

Das IMMS entwickelt in ARiS neue Entwurfsverfahren für einen Kopierschutz von integrierten Schaltungen, um das Know-how von Partnern zu sichern. Foto: IMMS.

Digitale Fachkonferenz des Bundesministeriums für Bildung und Forschung (BMBF)

Referenz

1682. VE-ARiS – „Alberich“ – Machine-Learning-basierte Vorhersage der Kopierbarkeit von ASICs

Florian Kögler, online 2022 Digitale Fachkonferenz „Vertrauenswürdige Elektronik 2022“

Referenz

1683. VE-VIDES – AP2, Design, Architektur und Modellierung, Vertrauenswürdig?

Georg Gläser, online 2022 Digitale Fachkonferenz „Vertrauenswürdige Elektronik 2022“

Veranstaltung

1684. BarCamp @ DATE 2022

Online BarCamp at the DATE 2020 conference. Source: community.cadence.com.

BarCamp on electronic design automation (EDA), microelectronics and (embedded) systems design

Über uns

1685. Netzwerke

Unsere regelmäßigen Workshop-Angebote fördern den Know-how-Transfer zu Netzwerkpartnern und zur Industrie. Derzeit finden sie im Online-Format statt. Foto: IMMS.

Netzwerke: Wir binden möglichst regional verfügbare Technologien in die Forschungsarbeiten ein und tragen so zur Vernetzung von Unternehmen bei, mit der das Innovationspotenzial von kleinen und mittleren Unternehmen ausgeschöpft werden soll.

Mediathek

1686. Jahresbericht 2020, Überblick zu Fachartikeln

Jahresbericht 2020, Überblick zu Fachartikeln

Veranstaltung

1687. 21. ITG/GMA Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2022

Energieautarkes NFC-Messsystem zum Auslesen von LFA-Teststreifen. Foto: IMMS.

Begleitende Konferenz der SENSOR + TEST 2022

Mediathek

1688. D4024A: CMOS image sensor with high dynamic-range for time-resolved fluorescence with Europium

D4024A: CMOS image sensor with high dynamic-range for time-resolved fluorescence with Europium CMOS image sensor with high dynamic-range for time-resolved fluorescence with Europium www.imms.de/d4024a Performances of the imager Dye decay time > 1 µs Time resolution 20 ns Frame rate 24 fps Pixel fill factor 59 % Photo diode dark current 200 e–/s Charge conversion gain 27 µV/e– Full-well capacity 53 ke– D4024A DTEST1 DTEST2 DTEST3 ATEST1 ATEST2 SYNC1 SYNC2 I2C TRTXL TRTXR TRTD VRES VDDH VDDA Row Driver Heater Lock-In Pixel Array (256x128) VSSD Column ADC High Speed…

Referenz

1689. Energieautarkes NFC-Messsystem zum Auslesen von LFA-Teststreifen

Markus Ismer, Alexander Rolapp, Björn Bieske, Nürnberg, Germany 2022 21. ITG/GMA Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2022

Veranstaltung

1690. Forum Künstliche Intelligenz

Im Projekt KIQ haben wir Lösungen für eingebettete KI untersucht und auf dieser Grundlage eine KI-basierte nachrüstbare und kostengünstige Lösung zur Qualitätssicherung bei Werkzeugen in der Zerspanung realisiert. Foto: IMMS.

Forum Künstliche Intelligenz der Fachmedien Elektronik, Elektronik automotive und Computer&AUTOMATION. Das Forum wurde vom Veranstalter abgesagt.