1441. Machine-Learning-basierte Messdatenanalyse für ASICs. Testen auf der Überholspur   Tom Reinhold, Georg Gläser Elektronik, 01/02.2022, 26. Januar 2022, Seite 46 - 48, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2201D  

  1442. Intelligente Layoutverarbeitung: KI für ASIC- und PCB-Layouts   Georg Gläser, Julian Kuners Elektronik, 03.2022, 9. Februar 2022, Seite 42 - 45, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2203D  

  1443. Messumgebung zur mixed-signal Echtzeit-Parametererfassung bei Lebensdauertests   Michael Meister, Björn Bieske Ingo Gryl Dagmar Kirsten 34. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2022), 27. Februar - 1. März 2022, Bremerhaven, Germany  

  1444. Echtzeitanalyse und Prognose des Wasserhaushalts im Weinbau   Hannes Mollenhauer, Martin Schieck Silvia Krug Valentin Knitsch IM+io, Fachmagazin, März 2022, Heft 01, ISSN 1616-1017, Seite 32 - 35  

  1445. VE-ARiS – „Alberich“ – Machine-Learning-basierte Vorhersage der Kopierbarkeit von ASICs   Florian Kögler, Digitale Fachkonferenz „Vertrauenswürdige Elektronik 2022“, 9. - 10. März 2022, online  

  1446. VE-VIDES – AP2, Design, Architektur und Modellierung, Vertrauenswürdig?   Georg Gläser, Digitale Fachkonferenz „Vertrauenswürdige Elektronik 2022“, 9. - 10. März 2022, online