I. Gryl,
V. Schulze
21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 129, 15. - 17. Februar 2009, Bremen
Kernthema Eingebettete KI im Forschungsfeld Intelligente vernetzte Mess- und Testsysteme: Die zahlreich vorhandenen KI-Algorithmen und -Methoden für leistungsfähige Rechentechnik sind für eingebettete Systeme ungeeignet. Wir forschen daran, KI-Algorithmen und Methoden so zu optimieren, dass sie auf eingebetteten Systemen einsetzbar sind.
Björn Bieske,
Alexander Schulz
25. GI/GMM/ITG-Workshop: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ), Dresden, 24.02.2013 - 26.02.2013