IMMS - Suche

Referenz

1301. Evaluierung und Test von HF-CMOS-Modulen, Einsatz von flexibel konfigurierbaren Testsystemen (PXI)

Björn Bieske, Klaus Heinrich, Bad Urach 2015 Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TUZ 2015)

Referenz

1302. Evaluierung und Test von GNSS-Empfängern mit realen und synthetischen Satellitensignalen

Björn Bieske, Uwe Stehr, Matthias A. Hein, Syed N. Hasnain, Darmstadt, Germany 2024 36. ITG / GMM / GI -Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2024)

Referenz

1303. Evaluierung und Test der Empfangsleistung von Funksystemen

Björn Bieske, Michael Schenk, Potsdam, Germany 2026 38. ITG / GMM / GI -Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2026)

Referenz

1304. Evaluation of triboelectric nanogenerators for low-frequency vibrations and their potential in wireless sensor networks

Marios Kaminiotis, Silvia Krug, Hannes Toepfer, Romain Noël, Julien Le Scornec, Vincent Le Cam, Bastien Chapuis, 2026 Smart Mater. Struct.

Referenz

1305. Evaluation of Low Leakage Currents using a Floating-Gate Transistor

Referenz

1306. Evaluation of Low Leakage Currents using a Floating Gate Transistor

Referenz

1307. Evaluation of Interoperability Between Various Implementations of the Thread Protocol Stack

Sebastian Miethe, Silvia Krug, Karlsruhe, Germany 2020 Workshop on Tools and Concepts for Communication and Networked Systems (TCoNS)

Referenz

1308. Evaluation of FinFET RF Building Blocks

Referenz

1309. Evaluation of 2D-/3D-Feet-Detection Methods for Semi-Autonomous Powered Wheelchair Navigation

Cristian Vilar Giménez, Silvia Krug, Faisal Z. Qureshi, Mattias O’Nils, 2021 Journal of Imaging

Veranstaltung

1310. euspen SIG: Micro/Nano Manufacturing 2023

Laser-Fokussensor für unkonventionelle, laterale Messungen von Nanopositioniertischen. Foto: IMMS.

euspen Special Interest Group Meeting: Micro/Nano Manufacturing 2023