1301. Entwurfsablauf für mechatronische Direktantriebe mit embedded-LinuxSteuerung unter Aspekten effizienter Rekonfigurierbarkeit   H.Töpfer, 18.02.2005, 5.GMM/IT/DI-Workshop Multi-Nature systems, Dresden  

  1302. Entwurfsablauf für mechatronische Direktantriebe mit embedded-Linux-Steuerung unter Aspekten effizienter Rekonfigurierbarkeit   H. Töpfer, M. Katzschmann T. Maaß J. Pietrusky M. Braczek In: 5.GMM/IT/GI-Workshop Multi-Nature-Systems, Dresden, S. 7-12. Fraunhofer Institut Integrierte Schaltungen, Dresden, 2005  

  1303. Entwurf, Evaluierung und Optimierung von HF- und UHF-RFID-Sensorsystemen   Björn Bieske, Tom Reinhold Jun Tan Analog 2020, 17. ITG/GMM-Fachtagung, Analoge Schaltungen: Schlüsselsysteme für Automotive, IoT und zukü­nftige drahtlose Technologien, 28-30 September 2020, online  

  1304. Entwurf, Aufbau und Test eines photometrischen Messsystems auf Basis eines CMOS-Sensorarrays für die schnelle und zuverlässige Vorort-Diagnostik von Prostatakrebs   Friedrich Scholz, Alexander Hofmann Workshop „Neue Sensorlösungen für Biologie und Medizin“, 23. Oktober 2018, Anwendungszentrum Mikrosystemtechnik Erfurt  

  1305. Entwurf, Aufbau und Konstruktion eines 5-Achs-Positioniersystems   H.-U. Mohr, Ch. Schäffel Ilmenau, F&E Report, April 2002  

  1306. Entwurf von SC-Schaltungen - Grundlagen und grundlegende Probleme   B. Dimov, 20. Mikroelektronik-Seminar, 02.04.2009, Erfurt  

  1307. Entwurf von HT-Schaltungen mit einer 1.0µm SOI Technologie   D. Nuernbergk, München, SOI-Workshop, Mai 2001  

  1308. Entwurf und Einsatzerfahrungen eines flexibel konfigurierbaren PXI-Testsystems für on-wafer Messungen im Halbleiterbereich   I. Gryl, G. Kropp R. Paris 22nd ITG/GI/GMM Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  

  1309. Entwurf und Einsatzerfahrungen eines flexibel konfigurierbaren PXI Testsystems für on-wafer Messungen im Halbleiterbereich   I. Gryl, G. Kropp R. Paris 22nd ITG/GI/GMM Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  

  1310. Entwurf und Auswertung von Testchips für die Bewertung eines BiCMOS - Prozesses   U. Heiber, 43. IWK, TU Ilmenau, September 1998