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Veranstaltung
1185.
GI/GMM/ITG-Workshop: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen
Referenz
1186.
Gesteigerte Wertschöpfung in modularen Systemen – Fehlerursachenanalyse für Produktionsanlagen
Referenz
1187.
Geometric Parameter Identification for Bulk-Micromachined Accelerometer from Modal Frequencies Measurements