1768 Ergebnisse
Referenz
  1111. Measurement Precision of a Planar Nanopositioning Machine with a Range of Motion of Ø100 mm  
Jaqueline Stauffenberg, Ingo Ortlepp Johannes Belkner Denis Dontsov Enrico Langlotz Steffen Hesse Ivo Rangelow Eberhard Manske Applied Sciences. 2022; 12(15):7843. DOI: https://doi.org/10.3390/app12157843  
Referenz
  1112. Measuring and Optimizing Efficiency of Electrostatic Energy Harvesters for Sensor Applications  
Bjoern Bieske, Gerrit Kropp Alexander Rolapp Sensorica 2017, IEEE Workshop, http://d-nb.info/1137195215, 8-9 June 2017, Mülheim an der Ruhr  
Referenz
  1113. Mechatronic Analysis and Design of High-Precision Drives  
E. Kallenbach, P. Maißer J. Lückel E. Saffert Ch. Schäffel H. Freudenberg W. Kuhlbusch ASPE, Annual Meeting, Norfolk, Virginia, Proc. P 507-510, Oktober 1997  
Referenz
  1114. Mechatronik - eine interdisziplinäre Herausforderung  
G. Scarbata, EUROFORUM, Fachkonferenz für die Automobilindustrie, 15.04.-16.04.03  
Pressemitteilungen
  1115. MEDICA 2016: IMMS setzt Mikroelektronik für die Vor-Ort-Diagnostik ein  
Testaufbau mit Live-Demo für die individualisierte Krebsfrüherkennung in Halle 3 / Stand G60  
Referenz
  1116. MEDIKIT  
Das IMMS hat einen Chip für mobile Diagnostiksysteme zur Früherkennung von Krankheiten mithilfe von zeitaufgelösten Fluoreszenz-Messungen entwickelt.  
Referenz
  1117. Meeting ASEDA Projekt - ANASTASIA - WP3.1  
St. Lange, München, Juli 2001  
Referenz
  1118. Meeting ASEDA Projekt ANASTASIA - WP2  
R. Kindt, Meylan, Juni 2001  
Referenz
  1119. Mehr Transparenz in der Produktion und in Prozessen durch nachrüstbare Sensorik  
Jörg Weber, Jenaer Technologietag, Digitale Arbeitswelten, Workshop zu Technologie, 31. Januar 2018, Ernst-Abbe-Hochschule, Jena  
Dienstleistung
  1120. MEMS – Simulation, Design und Test  
Dienstleistung MEMS – Simulation, Design und Test: Wir entwickeln als Designhouse für die offene Technologieplattform XMB-10 von X-FAB Beschleunigungssensoren entsprechend Ihrer Spezifikation. Beim Test von MEMS fokussieren wir uns auf die vibrometrische Untersuchung von Sensoren.  
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