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1051. Eric Schäfer, M. Sc.

Mikroelektronik-Team am IMMS in Erfurt 2022. Foto: IMMS.

Leiter Mikroelektronik und Institutsteil Erfurt

Referenz

1052. Erhöhung von Integrationsgrad und Ausbeute für ISM-Band Empfänger-ICs durch BISC

P. Teichmann, 1. EDA-Workshop 07, 19.-20. Juni 2007, Hannover

Referenz

1053. Erhöhung der Testqualität für optoelektrische Schaltungen durch Charakterisierung des Strahlprofils

M. Reinhard, M. Meister U. Liebold T. Cohrs Dr. D. Nuernbergk 22nd ITG/GI/GMM Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn

Referenz

1054. Ergebnisse von optoelektronischen Teststrukturen in CMOS- und BiCMOS Technologie

U. Kuniß, D. Nuernbergk H. Pleß K.-O. Hofacker F. Rößler Statusseminar CADWOK, Paderborn, Januar 1999

Referenz

1055. Ergebnisse von Forschungs- und Entwicklungsaufgaben zum Entwurf analog-digitaler Mikroelektronik

G. Scarbata, VDI/VDE Veranstaltung des Thüringer Bezirksvereins e.V., F. Schiller Uni Jena, Januar 1997

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1056. Erfolgskritisches Wissen bewerten und entwickeln - Praxisbericht aus dem Forschungsalltag

W. Sinn, 8.InfoPool. Aller Anfang ist leichter als man denkt - Wissensmanagement einführen, Veranstaltung Fraunhofer Gesellschaft, Berlin, 05.12.2006

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1057. Erfolgskritisches Wissen bewerten und entwickeln - Praxisbericht

Dr. W. Sinn, TU Ilmenau (Ringvorlesung), 08.06.2010, Ilmenau

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1058. Erfahrungen mit der UML beim Entwurf von Kfz-Steuerungen

M. Götze, W. Kattanek 4. GI/ITG/GMM-Workshop Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen, 19.-21. Februar 2001, Meissen

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1059. Erfahrungen mit der UML beim Entwurf von Kfz-Steuerungen

M. Götze, W. Kattanek In: Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen, Band 2, S. 87-98. Verlag MoPress, Pohrsdorf, 2001

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1060. Erfahrungen beim Halbleitertest und zukünftige Herausforderungen für PXI-Testsysteme

Klaus Förster, ATE-Technologietag, Radolfzell, 07.05.2013