Understanding optically detected magnetic resonance (ODMR) of InSi-Sii-defects

Kevin Lauer^1,2. Bernd Hähnlein¹. Mario Bähr¹. Kai Kühnlenz¹. Philipp Kellner¹. Dirk Schulze². Stefan Krischok². Alexander Rolapp³. Christian Möller¹. Thomas Ortlepp¹.

DPG-Frühjahrstagung (DPG Spring Meeting) of the Condensed Matter Section (SKM), March 8-13, 2026, Technische Universität Dresden, Dresden, Germany

¹CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH, Konrad-Zuse-Str. 14, 99099 Erfurt, Germany. ²Technische Universität Ilmenau, Institut für Physik, Weimarer Str. 32, 98693 Ilmenau, Germany. ³IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany.

Intelligente vernetzte Mess- und Testsysteme Vortrag und Posterpräsentation

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