Aktuelle Publikation
High reliability EEPROM design for high-temperature applications
D. Kirsten1.
S. Richter1.
D. Nuernbergk1.
St. Richter2.
Second Workshop of the Thematic Network on Silicon on Insulator technology, devices and circuits (EUROSOI), Grenoble, Frankreich, 8.-10. März, 2006
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.
2X-FAB AG.
Vortrag