Evaluierung und Test von HF-CMOS-Modulen, Einsatz von flexibel konfigurierbaren Testsystemen (PXI)

Björn Bieske¹, Klaus Heinrich²

Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TUZ 2015), 01.03.2015 – 03.03.2015, Bad Urach

¹IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany, ²X-FAB Semiconductor Foundries AG, Haarbergstraße 67, 99097 Erfurt, Germany

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