Aktuelle Publikation
Basic Design Challenges for Logical Gates Using Non-Standard Technologies or Circuit Concept Approaches
A. Amar1.
W. Glauert2.
3. GMM/GI/ITG-Fachtagung 'Zuverlässigkeit und Entwurf', Stuttgart, 21.-23.09.2009
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.
2Uni Erlangen-Nürnberg, Lehrstuhl für Zuverlässige Schaltungen uns Systeme.
Fachartikel