
TuZ 2019
24.02.2019 – 26.02.20191. Vortragspräsentation, Session 2: Zuverlässigkeit und Teststabilität
Montag, 25.02.2019, 13:30 Uhr - 15:00 Uhr
Messverfahren zur HF-Charakterisierung des Crosstalks verschiedener Halbleitertechnologien
Autoren:
1Björn Bieske, 2Dagmar Kirsten, 3Michael Ott, 3Michael Frey
1IMMS GmbH, Ilmenau, 2X-Fab GmbH, Erfurt, 3Melexis GmbH, Erfurt
2. Vortragspräsentation, Session 4: Mixed-Signal Test und Machine Learning
Dienstag, 26.02.2019, 10:30 Uhr - 12:00 Uhr
Messumgebung zur dynamischen Charakterisierung des Leistungsverbrauchs von Ultra-Low-Power Schaltungen
Autoren:
Marco Reinhard, Alexander Rolapp, Benjamin Saft, Michael Meister