1. Vortragspräsentation, Session 2: Zuverlässigkeit und Teststabilität

Montag, 25.02.2019, 13:30 Uhr - 15:00 Uhr

Messverfahren zur HF-Charakterisierung des Crosstalks verschiedener Halbleitertechnologien

Autoren:

¹Björn Bieske, ²Dagmar Kirsten, ³Michael Ott, ³Michael Frey
¹IMMS GmbH, Ilmenau, ²X-Fab GmbH, Erfurt, ³Melexis GmbH, Erfurt

2. Vortragspräsentation, Session 4: Mixed-Signal Test und Machine Learning

Dienstag, 26.02.2019, 10:30 Uhr - 12:00 Uhr

Messumgebung zur dynamischen Charakterisierung des Leistungsverbrauchs von Ultra-Low-Power Schaltungen

Autoren:

Marco Reinhard, Alexander Rolapp, Benjamin Saft, Michael Meister