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Testsystem für die Charakerisierung analoger und digitaler Strukturen – Mixed-Signal-Analyse wird mobiltauglich
Tom Reinhold1.
Elektronik, 24.2024, 26. November 2024, Seite 70 - 73, ePaper: wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany.
